Otsing - TalTech teadusportaal

IEEE Top Picks in Test and Reliability Workshop at the International Test Conference 2024, San Diego, US, November 7-8, 2024 (allikas)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Techniques for reliability in Edge-AI chipsJenihhin, Maksim; Taheri, Mahdi; Cherezova, Natalia; Ahmadilivani, Mohammad Hasan; Rafiq, Ahsan; Raik, Jaan; Daneshtalab, MasoudIEEE Top Picks in Test and Reliability Workshop at the International Test Conference 2024, San Diego, US, November 7-8, 20242024 / p. 1-2 https://people.rennes.inria.fr/Marcello.Traiola/TPTR2024/event_program.html

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1