Otsing - TalTech teadusportaal

Proceedings of international conference "Technical Diagnostics-93", St.-Peterburg, June 8-10, 1993 (allikas)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Система генерирования тестов для микропроцессоровUbar, Raimund-Johannes; Dušina, Julia; Zaugarov, Viktor; Крупнова Е.; Storožev, SergeiProceedings of international conference "Technical Diagnostics-93", St.-Peterburg, June 8-10, 19931993 / p. 87-89

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1