Otsing - TalTech teadusportaal

[MIEL] 2000 : 22nd International Conference on Microelectronics : Niš, Yugoslavia, 14-17 May 2000 : proceedings. Volume 2 (allikas)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Design error localization in digital circuits by stuck-at fault test patternsJutman, Artur; Ubar, Raimund-Johannes[MIEL] 2000 : 22nd International Conference on Microelectronics : Niš, Yugoslavia, 14-17 May 2000 : proceedings. Volume 22000 / p. 723-726 https://ieeexplore.ieee.org/document/838792

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1