Otsing - TalTech teadusportaal

Hierarchical approach to test generation for digital systems at system, circuit and defect levels (pealkiri)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Hierarchical approach to test generation for digital systems at system, circuit and defect levelsUbar, Raimund-Johannes45. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, 04.-06.10.2000 : Tagungsband2000 / S. 711-716 : Ill

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1