Otsing - TalTech teadusportaal

International Symposium on System-on-Chip : November 19-21, 2003, Tampere, Finland : proceedings (allikas)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Multiple-objective backtrace for solving test generation constraintsMekler, A.; Raik, JaanInternational Symposium on System-on-Chip : November 19-21, 2003, Tampere, Finland : proceedings2003 / p. 123-126 : ill https://ieeexplore.ieee.org/document/1267732

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1