Otsing - TalTech teadusportaal

The 23rd International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-23 : Awaji island, Japan, July 24 - July 29, 2005 : program and abstracts (allikas)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

High temperature investigation of ZnS:Ga and CdSe:GaLott, Kalju; Nirk, Tiit; Volobujeva, Olga; Šinkarenko, Svetlana; Grebennik, A.; Vishnjakov, A.The 23rd International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-23 : Awaji island, Japan, July 24 - July 29, 2005 : program and abstracts2005 / p. 210 : ill

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1