Otsing - TalTech teadusportaal

Sixteenth IEEE European Test Symposium : 23-27 May 2011, Trondheim (allikas)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Constraint-based hierarchical untestability identification for synchronous sequential circuitsRaik, Jaan; Rannaste, Anna; Jenihhin, Maksim; Viilukas, Taavi; Ubar, Raimund-Johannes; Fujiwara, HideoSixteenth IEEE European Test Symposium : 23-27 May 2011, Trondheim2011 / p. 147-152

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1