Phase composition of selenized Cu2ZnSnSe4 thin films determined by X-ray diffraction and Raman spectroscopy
autor
vastutusandmed
M. Ganchev, J. Iljina, L. Kaupmees, T. Raadik, O. Volobujeva, A. Mere, M. Altosaar, J. Raudoja, E. Mellikov
allikas
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 519, 21
ilmumisaasta
leheküljed
p. 7394-7398 : ill
ISSN
0040-6090
märkused
Bibliogr.: 14 ref
keel
inglise
Ganchev, M., Iljina, J., Kaupmees, L., Raadik, T., Volobujeva, O., Mere, A., Altosaar, M., Raudoja, J., Mellikov, E. Phase composition of selenized Cu2ZnSnSe4 thin films determined by X-ray diffraction and Raman spectroscopy // Thin solid films (2011) Vol. 519, 21, p. 7394-7398 : ill.