Characterization of deep level traps in semiconductor structures using numerical experiments
vastutusandmed
A. Koel, T. Rang & G. Rang
allikas
ilmumiskoht
Southampton
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 253-261 : ill
seeria-sari
ISSN
1746-4471
ISBN
978-1-84564-948-7
märkused
Bibliogr.: 3 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
võtmesõna
Koel, A., Rang, T., Rang, G. Characterization of deep level traps in semiconductor structures using numerical experiments // Materials characterization VII. Southampton : WIT Press, 2015. p. 253-261 : ill. (WIT transactions on engineering sciences ; 90).