Measurement of the lifetime of nonequilibrium charge carriers in silicon using photoelectric methods
vastutusandmed
Aleksander Graf, Aleksei Gavrilov, Pavel Suurvarik
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 6, 4
ilmumisaasta
leheküljed
p. 26-31 : ill
ISSN
2305-8269
märkused
Bibliogr.: 2 ref
keel
inglise
võtmesõna
methods of measuring
nonequilibrium charge carriers
lifetime of carriers
TTÜ struktuuriüksus
Graf, A., Gavrilov, A., Suurvarik, P. Measurement of the lifetime of nonequilibrium charge carriers in silicon using photoelectric methods // International journal of engineering and applied sciences (EAAS) (2015) Vol. 6, 4, p. 26-31 : ill.