Top-K formal concepts for identifying positively and negatively correlated biclusters
vastutusandmed
Amina Houari & Sadok Ben Yahia
ilmumiskoht
Cham
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 156-172
seeria-sari
konverentsi nimetus, aeg
10th International Conference, MEDI 2021, Tallinn, Estonia, June 21-23, 2021
konverentsi toimumispaik
Virtual Conference
ISSN
0302-9743
1611-3349
ISBN
978-3-030-78427-0
978-3-030-78428-7
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
kategooria (üld)
kategooria (alam)
Uurimisrühm
Houari, A., Ben Yahia, S. Top-K formal concepts for identifying positively and negatively correlated biclusters // Model and Data Engineering : 10th International Conference, MEDI 2021, Tallinn, Estonia, June 21–23, 2021 : proceedings. Cham : Springer Nature, 2021. p. 156-172. (Lecture notes in computer science ; 12732).