Hierarchical approaches to test generation and fault simulation
                                            autor
                                    
                                    
                                
                                            vastutusandmed
                                    
                                    
Ubar, R.
                                                    
                                            
                                            allikas
                                    
                                    
                                
                                            ajakirja aastakäik number kuu
                                    
                                    
3
                                                    
                                            
                                            ilmumisaasta
                                    
                                    
                                
                                            leheküljed
                                    
                                    
p. 204
                                                    
                                            
                                            ISSN
                                    
                                    
1563-0064
                                                    
                                            
                                            märkused
                                    
                                    
Special issue: Proceedings of East-West Design & Test Conference (EWDTC’03): Yalta, Alushta, Crimea, Ukraine, September 17-21, 2003
                                                    
                                            
                                            keel
                                    
                                    
inglise
                                                    
                                            
                                            märksõna
                                    
                                    
                                
                            Ubar, R.-J. Hierarchical approaches to test generation and fault simulation // Radioelectronics and informatics (2003) 3, p. 204.