Reliability study of input side capacitors in impedance-source PV microconverters
vastutusandmed
Elizaveta Liivik, Dmitri Vinnikov, Andrii Chub, Yanfeng Shen, Huai Wang, Frede Blaabjerg
allikas
ilmumiskoht
Danvers
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 5026–5032 : ill
konverentsi nimetus, aeg
IECON 2019 - 45th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society, 14 - 17 October, 2019
konverentsi toimumispaik
Lisbon, Portugal
ISSN
2577-1647
ISBN
978-1-7281-4878-6
märkused
Bibliogr.: 32 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
WOS
kvartiil
klassifikaator
kategooria (üld)
Uurimisrühm
Liivik, E., Vinnikov, D., Chub, A., Shen, Y. et al. Reliability study of input side capacitors in impedance-source PV microconverters // IECON 2019 - 45th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society : proceedings. Danvers : IEEE, 2019. p. 5026–5032 : ill.