TalTech publikatsioonid
pealdis Damljanovic, A., Squillero, G., Gürsoy, C. C., Jenihhin, M.
TTÜ struktuuriüksus arvutisüsteemide instituut
maakood us
keel inglise
autor Damljanovic, Aleksa
Squillero, Giovanni
Gürsoy, Cemil Cem
Jenihhin, Maksim
pealkiri On NBTI-induced aging analysis in IEEE 1687 reconfigurable scan networks
vastutusandmed Aleksa Damljanovic, Giovanni Squillero, Cemil Cem Güursoy, Maksim Jenihhin
allikas VLSI-SoC 2019 : 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration : [proceedings]
ilmumiskoht Piscataway
kirjastus/väljaandja IEEE
ilmumisaasta c2019
leheküljed p. 335-340 : ill
konverentsi nimetus, aeg 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, October 6-9, 2019
konverentsi toimumispaik Cusco, Peru
märksõna nanoelektroonika
rikked
võtmesõna IJTAG
NBTI
aging
mitigation
ISSN 2324-8440
2324-8432
ISBN 978-1-7281-3915-9
978-1-7281-3916-6
märkused Bibliogr.: 22 ref
url https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC.2019.8920313