TalTech publikatsioonid
pealdis Bagbaba, A.C., Jenihhin, M., Ubar, R., Sauer, C.
TTÜ struktuuriüksus arvutis├╝steemide instituut
maakood us
keel inglise
autor Bagbaba, Ahmet Cagri
Jenihhin, Maksim
Ubar, Raimund-Johannes
Sauer, Christian
pealkiri Representing gate-level SET faults by multiple SEU faults on RT-level
vastutusandmed Ahmet Cagri Bagbaba, Maksim Jenihhin, Raimund Ubar, Christian Sauer
allikas 2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 13-15 July 2020, proceedings
ilmumiskoht Danvers
kirjastus/väljaandja IEEE
ilmumisaasta 2020
leheküljed art. 19889351, 6 p
konverentsi toimumispaik Napoli, Italy
märksõna vead
veakindlus
tarkvara
võtmesõna SET
SEU
multiple faults
functional safety
hardware security
fault injection
ISBN 9781728181875
märkused Bibliogr.: 20 ref
url https://doi.org/10.1109/IOLTS50870.2020.9159715