TalTech publikatsioonid
pealdis Odintsov, S., Jutman, A., Devadze, S.
TTÜ struktuuriüksus arvutisüsteemide instituut
maakood us
keel inglise
autor Odintsov, Sergei
Jutman, Artur
Devadze, Sergei
pealkiri Marginal PCB assembly defect detection on DDR3/4 memory bus
vastutusandmed Sergei Odintsov, Artur Jutman and Sergei Devadze
allikas 2017 IEEE International Test Conference (ITC 2017) : Forth Worth, Texas, USA, 31 October - 2 November 2017
ilmumiskoht [S.l.]
kirjastus/väljaandja IEEE
ilmumisaasta 2017
leheküljed p. 238-247 : ill
konverentsi nimetus, aeg 48th International Test Conference (ITC), 31 October - 2 November 2017
konverentsi toimumispaik Fort Worth, USA
märksõna tarkvaraarendus
rikked
mäluseadmed
ISBN 978-1-5386-3414-1
märkused Bibliogr.: 20 ref
url https://doi.org/10.1109/TEST.2017.8242070