Fast identification of true critical paths in sequential circuits
vastutusandmed
Raimund Ubar, Sergei Kostin, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Lembit Jürimägi
allikas
kirjastus/väljaandja
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 81
ilmumisaasta
leheküljed
p. 252-261 : ill
ISSN
0026-2714
märkused
Bibliogr.: 24 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
keel
inglise
märksõna
võtmesõna
klassifikaator
kvartiil
kategooria (üld)
kategooria (alam)
TTÜ struktuuriüksus
Ubar, R., Kostin, S., Jenihhin, M., Raik, J., Jürimägi, L. Fast identification of true critical paths in sequential circuits // Microelectronics reliability (2018) vol. 81, p. 252-261 : ill.