Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

51

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Digital last planner system whiteboard for enabling remote collaborative design process planning and controlPikas, Ergo; Pedo, Barbara; Tezel, Algan; Koskela, Lauri; Veersoo, MarkusSustainability2022 / art. 12030 https://doi.org/10.3390/su141912030 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

52

artikkel kogumikus

A digital measuring module for tool wear estimationOtto, Tauno; Kurik, Lembit; Papstel, JüriDAAAM international scientific book 20032003 / p. 435-444

artikkel kogumikus

53

artikkel kogumikus

Digital object memory based monitoring and assistance applications in manual work stationAruväli, Tanel14th International Symposium "Topical problems in the field of electrical and power engineering. Doctoral school of energy and geotechnology. II" : Pärnu, Estonia, January 13-18, 20142014 / p. 274-276 : ill

artikkel kogumikus

54

artikkel kogumikus

Digital synthesis tools for education and researchFomina, Jelena; Ellervee, Peeter; Kruus, Margus; Sudnitsõn, Aleksander; Tammemäe, KalleProc. 18th International Conference on Systems for Automation of Engineering and Research (SAER'2004)2004 / p. 160-164

artikkel kogumikus

55

artikkel kogumikus

Digital techniques in magnetic measurementsRipka, Pavel; Kašpar, Petr; Roztocil, Jaroslav; Platil, AntoninBEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings1996 / p. 153-154: ill

artikkel kogumikus

56

artikkel kogumikus

Distance-learning tools for digital design and test issuesJutman, Artur; Kruus, Margus; Sudnitsõn, Aleksander; Ubar, Raimund-JohannesIT+SE'2002 : Information Tec[h]nologies in Science, Education, Telecommunication, Business : proceedings = Информационные технологии в науке, образовании, телекоммуникации, бизнесе, Украина, Крым, Ялта-Гурзуф, 20-30 мая 2002 года : труды2002 / p. 269-272 : ill

artikkel kogumikus

57

artikkel kogumikus

Double phase fault collapsing with linear complexity in digital circuitsUbar, Raimund-Johannes; Jürimägi, Lembit; Orasson, Elmet; Josifovska, Galina; Oyeniran, Adeboye StephenDSD 2015 : 18th Euromicro Conference on Digital Systems Design : 26-28 August 2015, Funchal, Madeira, Portugal2015 / p. 700-705 : ill

artikkel kogumikus

58

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Effect of keysight 3458A jitter on precision of phase difference measurementPokatilov, Andrei; Kübarsepp, Toomas; Vabson, ViktorIEEE transactions on instrumentation and measurement2016 / p. 2595-2600 : ill https://doi.org/10.1109/TIM.2016.2593965 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

59

artikkel kogumikus

E-learning tool and excercises for teaching digital testUbar, Raimund-Johannes; Orasson, ElmetProceedings of the 2nd IEEE Conference on Signals, Systems, Decision and Information Technology : Sousse, Tunisia, 20032003 / [6] p. : ill https://pld.ttu.ee/dildis/publications/E-Learning%20tool%20and%20Excercises.pdf

artikkel kogumikus

60

artikkel kogumikus

E-learning tools for digital testDevadze, Sergei; Gorjachev, R.; Jutman, Artur; Orasson, Elmet; Rosin, Vjatšeslav; Ubar, Raimund-JohannesProc. III International Conference "Distance Learning - Educational Sphere of XXI Century" : Minsk, Belorussia, 20032003 / p. 336-342

artikkel kogumikus

61

artikkel kogumikus

Embedded diagnosis in digital systemsKostin, SergeiInfo- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja2008 / p. 81-84 : ill

artikkel kogumikus

62

artikkel kogumikus

Embedded diagnosis in digital systemsUbar, Raimund-Johannes; Kostin, Sergei; Raik, Jaan2008 26th International Conference on Microelectronics : Niš, Serbia, 11-14 May 2008 : proceedings. Vol. 22008 / p. 421-424 : ill

artikkel kogumikus

63

artikkel ajakirjas

Embedded fault diagnosis in digital systems with BISTUbar, Raimund-Johannes; Kostin, Sergei; Raik, JaanMicroprocessors and microsystems2008 / 5/6, p. 279-287 : ill

artikkel ajakirjas

64

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Environment for the analysis of functional self-test quality in digital systemsUbar, Raimund-Johannes; Kostin, Sergei; Kruus, Helena; Aarna, Margit; Devadze, SergeiProceedings of the Estonian Academy of Sciences2014 / p. 151-162 : ill https://artiklid.elnet.ee/record=b2673964*est https://doi.org/10.3176/proc.2014.2.05 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

65

artikkel kogumikus

Equivalent transformations of structurally synthesized BDDs and applicationsJürimägi, Lembit; Ubar, Raimund-Johannes; Viies, Vladimir2019 8th Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO)2019 / 6 p. : ill https://doi.org/10.1109/MECO.2019.8760283

artikkel kogumikus

66

artikkel ajalehes

Estonia huku uurimine jätkub, kuigi valitsus pole lisaraha veel eraldanud [Võrguväljaanne]Linnart, Marterr.ee2022 Estonia huku uurimine jätkub, kuigi valitsus pole lisaraha veel eraldanud

artikkel ajalehes

67

artikkel ajakirjas

EUROCHIP - kursus digitaalsüsteemide kõrgtaseme sünteesist : [Leuven, Belgia : aug.-sept.]Tammemäe, KalleArvutustehnika ja Andmetöötlus1994 / 11, lk. 15-21

artikkel ajakirjas

68

artikkel kogumikus

Evaluation of the latency components in MPEG-4 DVB-T systemÄniline, JannoInfo- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum2007 / lk. 77-80

artikkel kogumikus

69

artikkel kogumikus

Fast RTL fault simulation using decision diagrams and bitwise set operationsReinsalu, Uljana; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Ellervee, Peeter2011 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) : 3-5 October 2011, Vancouver, Canada2011 / p. 164-170 https://ieeexplore.ieee.org/document/6104440

artikkel kogumikus

70

artikkel kogumikus

Fault model and test synthesis for RISC-processorsUbar, Raimund-Johannes; Markus, Antti; Jervan, Gert; Raik, JaanBEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings1996 / p. 229-232: ill

artikkel kogumikus

71

artikkel kogumikus

Fault modeling and diagnosis in digital systemsUbar, Raimund-JohannesCREDES Summer School : Dependable Systems Design : handouts2011 / p. 91-106 : ill

artikkel kogumikus

72

dissertatsioon

Fault simulation and code coverage analysis of RTL designs using high-level decision diagrams = Rikete simuleerimine ja koodikatte analüüs register-siirde tasemel kasutades kõrgtaseme otsustusdiagrammeReinsalu, Uljana2013 https://www.ester.ee/record=b2963595*est

dissertatsioon

73

dissertatsioon

Fault simulation of digital systems = Digitaalsüsteemide rikete simuleerimineDevadze, Sergei2009 https://digi.lib.ttu.ee/i/?445 https://www.ester.ee/record=b2508727*est

dissertatsioon

74

artikkel kogumikus

Foreword to the 12th IEEE DDECS SymposiumPliva, Zdenek; Manhaeve, Hans; Renovell, Michel; Novak, Ondrej; Ubar, Raimund-Johannes; Drabkova, JindraProceedings of the 2009 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 15-17, 2009, Liberec, Czech Republic2009 / p. iii http://dx.doi.org/10.1109/DDECS.2009.5012081

artikkel kogumikus

75

dissertatsioon

Formal verification and error correction on high-level decision diagrams = Formaalne verifitseerimine ja vigade parandamine kõrgtasemelistel otsustusdiagrammidelKarputkin, Anton2012

dissertatsioon

digitaaltehnika (märksõna)

teaviku laadid

märksõna 1