Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

201

artikkel ajakirjas

System-level data format exploration for dynamically allocated data structuresEllervee, Peeter; Miranda, Miguel; Catthoor, Francky; Hemani, AhmedIEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems2001 / 12, p. 1469-1472 : ill https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/969440

artikkel ajakirjas

202

dissertatsioon

System-level design of timing-sensitive network-on-chip based dependable systems = Kiipvõrkudel põhinevate ajakriitiliste ja töökindlate süsteemide kõrgtaseme disainTagel, Mihkel2012 https://www.ester.ee/record=b2778263*est

dissertatsioon

203

artikkel ajakirjas

Z-RAM-mäluToomsalu, ArvoA & A2008 / 3, lk. 10-19 https://artiklid.elnet.ee/record=b1022321*est

artikkel ajakirjas

204

artikkel ajalehes

TalTech panustab kosmosevaldkonda kiipide, päikesepaneelide ja satelliitidegaNormak, Liisu KirkeTrialoog2025 https://trialoog.taltech.ee/taltech-panustab-kosmosevaldkonda-kiipide-paikesepaneelide-ja-satelliitidega/

artikkel ajalehes

205

artikkel ajalehes

TalTech professor: AI chip restrictions on Estonia won't make much differenceTammet, Tanelnews.err.ee2025 TalTech professor: AI chip restrictions on Estonia won't make much difference

artikkel ajalehes

206

artikkel ajalehes

TalTechi arvutisüsteemide professori uudne tehnoloogia raskendab spionaaži [Võrguväljaanne]Kald, Indrekituudised.ee2021 "TalTechi arvutisüsteemide professori uudne tehnoloogia raskendab spionaaži

artikkel ajalehes

207

artikkel ajalehes

Tammet: USA kiibipiirang Eestit ei mõjutaTammet, Tanelerr.ee2025 Tammet: USA kiibipiirang Eestit ei mõjuta

artikkel ajalehes

208

artikkel kogumikus

Targeting conditional operations in sequential test pattern generationRaik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes9th European Test Symposium : ETS'04 : Congress Center, Ajaccio, Corsica, France,May 23-26, 20042004 / p. 17-18 : ill https://www.researchgate.net/publication/239717327_Targeting_Conditional_Operations_in_Sequential_Test_Pattern_Generation

artikkel kogumikus

209

artikkel kogumikus

Teaching advanced test issues in digital electronicsUbar, Raimund-Johannes; Orasson, Elmet; Raik, Jaan; Wuttke, Heinz-DietrichProceedings of the 6th IEEE International Conference on Information Technology Based Higher Education and Training : ITHET : July 7-9, 2005, Juan Dolio, Dominican Republic2005 / p. S2B-1 - S2B-6 : ill http://dx.doi.org/10.1109/ITHET.2005.1560318

artikkel kogumikus

210

artikkel kogumikus

Teaching digital test with BIST analyzerJutman, Artur; Tšertov, Anton; Tšepurov, Anton; Aleksejev, Igor; Ubar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-Dietrich19th EAEEIE Annual Conference : June 29-July 2, 2008, Tallinn, Estonia : formal proceedings2008 / p. 123-128 : ill http://dx.doi.org/10.1109/EAEEIE.2008.4610171

artikkel kogumikus

211

artikkel ajalehes

Tehisintellekti kiire areng tõotab kiibitööstust põhjalikult raputadaPort, Kristjandelfi.ee2023 Tehisintellekti kiire areng tõotab kiibitööstust põhjalikult raputada

artikkel ajalehes

212

artikkel ajalehes

Tehnikaülikooli teadlased loovad uue põlvkonna veakindlaid kiipeNõges, KrõõtMente et Manu2010 / lk. 2 https://www.ester.ee/record=b1242496*est

artikkel ajalehes

213

artikkel ajalehes

Tehnikaülikooli teadlaste juhtimisel luuakse uue põlvkonna veakindlaid kiipeStudioosus2010 / veebr., lk. 8 https://www.ester.ee/record=b1558644*est

artikkel ajalehes

214

artikkel ajakirjas

10th IEEE European Test SymposiumUbar, Raimund-Johannes; Prinetto, Paolo; Raik, JaanIEEE journal of design & test of computers2005 / p. 480-481 : phot http://dx.doi.org/10.1109/MDT.2005.106

artikkel ajakirjas

215

artikkel kogumikus

Test configurations for diagnosing faulty links in NoC switchesRaik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Govind, Vineeth12th IEEE European Test Symposium ETS 2007 : 20-24 May 2007, Freiburg, Germany : proceedings2007 / p. 29-34 : ill http://dx.doi.org/10.1109/ETS.2007.41

artikkel kogumikus

216

artikkel kogumikus

Test cost minimization for hybrid BISTJervan, Gert; Peng, Zebo; Ubar, Raimund-JohannesIEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : 25-27 October 2000, Yamanashi, Japan : proceedings2000 / p. 283-298 : ill https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/887168

artikkel kogumikus

217

artikkel ajakirjas

Test methods for crosstalk-induced delay and glitch faults in network-on-chip interconnects implementing asynchronous communication protocolsBengtsson, Tomas; Kumar, Shashi; Ubar, Raimund-Johannes; Jutman, Artur; Peng, ZeboIET computers and digital techniques2008 / 6, p. 445-460 https://www.diva-portal.org/smash/record.jsf?dswid=-5073&aq2=%5B%5B%5D%5D&c=39&af=%5B%5D&searchType=SIMPLE&sortOrder2=title_sort_asc&language=en&pid=diva2%3A290043&aq=%5B%5B%7B%22personId%22%3A%22authority-person%3A23389%22%7D%5D%5D&sf=all&aqe=%5B%5D&sortOrder=author_sort_asc&onlyFullText=false&noOfRows=50

artikkel ajakirjas

218

artikkel kogumikus

Test time minimization for hybrid BIST of core-based systemsJervan, Gert; Eles, Petru; Peng, Zebo; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim12th Asian Test Symposium (ATS 2003) : 17-19 November 2003, Xian, China2003 / p. 318-325 : ill https://link.springer.com/article/10.1007/s11390-006-0907-x

artikkel kogumikus

219

artikkel kogumikus

Test time minimization for hybrid BIST with test pattern broadcastingUbar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim; Jervan, Gert; Peng, ZeboIEEE NORCHIP 2003 : 21 Norchip Conference : Riga, Latvia, 10-11 November 2003 : proceedings2003 / p. 112-116 : ill https://www.ida.liu.se/labs/eslab/publications/pap/db/norchip03.pdf

artikkel kogumikus

220

artikkel kogumikus

Testability analysis for efficient register-transfer level test generation [Electronic resource]Nõmmeots, Tanel; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes9th International Conference MIXDES 2002 : Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, Wroclaw, Poland, 20-22 June 20022002 / [4] p. [CD-ROM]

artikkel kogumikus

221

artikkel kogumikus

The dildis-project-using applets for more demonstrative lectures in digital systems design and testUbar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-DietrichProceedings of the 31st ASEE/IEEE Frontiers in Educations Conference : FIE'2001 : Reno, Nevada2001 / p. SIE-2-7 https://ieeexplore.ieee.org/document/963996

artikkel kogumikus

222

artikkel kogumikus

The dildis-project-using applets for more demonstrative lectures in digital systems design and testUbar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-DietrichFIE 2001 : 31st Annual Frontiers in Educations Conference : Impact on Engineering and Science Education : Reno, Nevada, October 10-13, 2001 : conference program2001 / p. 83 https://ieeexplore.ieee.org/document/963996

artikkel kogumikus

223

artikkel ajalehes

Töökindla arvutusriistvara keskuse juht Maksim JenihhinJenihhin, Maksimforte.delfi.ee2024 Töökindla arvutusriistvara keskuse juht Maksim Jenihhin

artikkel ajalehes

224

artikkel kogumikus

Ultra fast parallel fault analysis on structurally synthesized BDDsUbar, Raimund-Johannes; Devadze, Sergei; Raik, Jaan; Jutman, Artur12th IEEE European Test Symposium ETS 2007 : 20-24 May 2007, Freiburg, Germany : proceedings2007 / p. 131-136 : ill http://dx.doi.org/10.1109/ETS.2007.43

artikkel kogumikus

225

artikkel kogumikus

Untestable fault identification in sequential circuits using model-checkingRaik, Jaan; Fujiwara, Hideo; Ubar, Raimund-Johannes; Krivenko, AnnaProceedings of the 17th Asian Test Symposium ATS 2008 : November 24-27, 2008, Sapporo, Japan2008 / p. 21-26 : ill http://dx.doi.org/10.1109/ATS.2008.22

artikkel kogumikus

integraallülitused (märksõna)

teaviku laadid

märksõna 1