Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

226

artikkel kogumikus

Test cost minimization for hybrid BISTJervan, Gert; Peng, Zebo; Ubar, Raimund-JohannesIEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : 25-27 October 2000, Yamanashi, Japan : proceedings2000 / p. 283-298 : ill https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/887168

artikkel kogumikus

227

artikkel ajakirjas

Test methods for crosstalk-induced delay and glitch faults in network-on-chip interconnects implementing asynchronous communication protocolsBengtsson, Tomas; Kumar, Shashi; Ubar, Raimund-Johannes; Jutman, Artur; Peng, ZeboIET computers and digital techniques2008 / 6, p. 445-460 https://www.diva-portal.org/smash/record.jsf?dswid=-5073&aq2=%5B%5B%5D%5D&c=39&af=%5B%5D&searchType=SIMPLE&sortOrder2=title_sort_asc&language=en&pid=diva2%3A290043&aq=%5B%5B%7B%22personId%22%3A%22authority-person%3A23389%22%7D%5D%5D&sf=all&aqe=%5B%5D&sortOrder=author_sort_asc&onlyFullText=false&noOfRows=50

artikkel ajakirjas

228

artikkel kogumikus

Test time minimization for hybrid BIST of core-based systemsJervan, Gert; Eles, Petru; Peng, Zebo; Ubar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim12th Asian Test Symposium (ATS 2003) : 17-19 November 2003, Xian, China2003 / p. 318-325 : ill https://link.springer.com/article/10.1007/s11390-006-0907-x

artikkel kogumikus

229

artikkel kogumikus

Test time minimization for hybrid BIST with test pattern broadcastingUbar, Raimund-Johannes; Jenihhin, Maksim; Jervan, Gert; Peng, ZeboIEEE NORCHIP 2003 : 21 Norchip Conference : Riga, Latvia, 10-11 November 2003 : proceedings2003 / p. 112-116 : ill https://www.ida.liu.se/labs/eslab/publications/pap/db/norchip03.pdf

artikkel kogumikus

230

artikkel kogumikus

Testability analysis for efficient register-transfer level test generation [Electronic resource]Nõmmeots, Tanel; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes9th International Conference MIXDES 2002 : Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, Wroclaw, Poland, 20-22 June 20022002 / [4] p. [CD-ROM]

artikkel kogumikus

231

artikkel kogumikus

The dildis-project-using applets for more demonstrative lectures in digital systems design and testUbar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-DietrichFIE 2001 : 31st Annual Frontiers in Educations Conference : Impact on Engineering and Science Education : Reno, Nevada, October 10-13, 2001 : conference program2001 / p. 83 https://ieeexplore.ieee.org/document/963996

artikkel kogumikus

232

artikkel kogumikus

The dildis-project-using applets for more demonstrative lectures in digital systems design and testUbar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-DietrichProceedings of the 31st ASEE/IEEE Frontiers in Educations Conference : FIE'2001 : Reno, Nevada2001 / p. SIE-2-7 https://ieeexplore.ieee.org/document/963996

artikkel kogumikus

233

artikkel ajalehes

Töökindla arvutusriistvara keskuse juht Maksim JenihhinJenihhin, Maksimforte.delfi.ee2024 Töökindla arvutusriistvara keskuse juht Maksim Jenihhin

artikkel ajalehes

234

artikkel kogumikus

Ultra fast parallel fault analysis on structurally synthesized BDDsUbar, Raimund-Johannes; Devadze, Sergei; Raik, Jaan; Jutman, Artur12th IEEE European Test Symposium ETS 2007 : 20-24 May 2007, Freiburg, Germany : proceedings2007 / p. 131-136 : ill http://dx.doi.org/10.1109/ETS.2007.43

artikkel kogumikus

235

artikkel kogumikus

Untestable fault identification in sequential circuits using model-checkingRaik, Jaan; Fujiwara, Hideo; Ubar, Raimund-Johannes; Krivenko, AnnaProceedings of the 17th Asian Test Symposium ATS 2008 : November 24-27, 2008, Sapporo, Japan2008 / p. 21-26 : ill http://dx.doi.org/10.1109/ATS.2008.22

artikkel kogumikus

236

artikkel kogumikus

Using Tabu search method for optimizing the cost of hybrid BISTKruus, Helena; Ubar, Raimund-Johannes; Jervan, Gert; Peng, Z.XVI Conference on Design of Circuits and Integrated Systems : Porto, Portugal, 20012001 / p. 445-450 https://citeseerx.ist.psu.edu/document?repid=rep1&type=pdf&doi=e97bb394ff71aa0affcc5fb372404bbc246888a8

artikkel kogumikus

237

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Utilizing layout effects for analog logic lockingAljafar, Muayad J.; Azais, Florence; Flottes, Marie-Lise; Pagliarini, SamuelJournal of Cryptographic Engineering2024 / p. 311-324 https://doi.org/10.1007/s13389-024-00350-8 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

238

artikkel ajakirjas

Uudne turvaline kiibitehnoloogiaRaik, JaanMente et Manu2021 / lk. 32-33 : fot Mente et Manu 2/2021

artikkel ajakirjas

239

artikkel ajalehes

Uuring: Eesti majanduse veduriks võib saada kuus tehnoloogiavaldkondaBioneer.ee2023 Uuring: Eesti majanduse veduriks võib saada kuus tehnoloogiavaldkonda

artikkel ajalehes

240

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Versatile direct and transpose matrix multiplication with chained operations : an optimized architecture using circulant matricesIakymchuk, Taras; Rosado-Munoz, Alfredo; Mompean, Manuel Bataller; Villora, Jose Vicente Frances; Osimiry, Emmanuel OvieIEEE Transactions on Computers2016 / p. 3470 - 3479 https://doi.org/10.1109/TC.2016.2538235 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

241

artikkel kogumikus

VHDL design debug framework based on zamiaCADTihhomirov, Valentin; Tšepurov, Anton; Saif Abrar, Syed; Jenihhin, Maksim; Raik, JaanDATE 2013 : Design Automation and Test in Europe, March 18-22, 2013, Grenoble, France2013 / [1] p. : ill

artikkel kogumikus

242

artikkel ajalehes

Võitlus kiipides varitsevate troojalastega tõstab Eesti teadlased kilbileHärmat, Karinerr.ee2023 Võitlus kiipides varitsevate troojalastega tõstab Eesti teadlased kilbile

artikkel ajalehes

243

artikkel ajakirjas

XXI sajandi arvutiToomsalu, ArvoA & A2000 / 1, lk. 8-13 ; 2, lk. 8-19 https://artiklid.elnet.ee/record=b1003324*est

artikkel ajakirjas

244

artikkel kogumikus

Быстродействующие интегральные компараторыGurjanov, Boris; Tamm, UljasIX Всесоюзная научно-техническая конференция по микроэлектронике, г. Казань, 14-17 окт. 1980 г. : тезисы докладов1980 / с. 88

artikkel kogumikus

245

artikkel kogumikus

Генерирование тестов для микропроцессорных БИСViilup, Agu; Evartson, TeetРасчет и проектирование систем технической кибернетики1983 / с. 121-129 : ил https://www.ester.ee/record=b1288991*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/7d7515af-76b7-4d35-89a7-e80367d5b635

artikkel kogumikus

246

artikkel kogumikus

Изменение параметров интегральных схем при анализе в растровом электронном микроскопеMeiler, BorissЭлектрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов1986 / с. 85-92 : ил https://www.ester.ee/record=b1296001*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/65e24755-71eb-4a99-b9fe-e1308121ed89

artikkel kogumikus

247

artikkel kogumikus

Измеритель коэффициента шума интегральных усилителейTammet, Heinar; Torim, A.A.Тезисы докладов республиканской научно-технической конференции, посвященной 80-летию со дня изобретения радио А. С. Поповым1975 / с. 93 https://www.ester.ee/record=b1322122*est

artikkel kogumikus

248

artikkel kogumikus

Измеритель шумов интегральных схемKoiduste, A.; Tammet, HeinarXX студенческая научно-техническая конференция вузов Прибалтийских республик, Белорусской ССР и Молдавской ССР : тезисы докладов. Часть 11974 / с. 147 https://www.ester.ee/record=b1306141*est

artikkel kogumikus

249

dissertatsioon

Исследование влияния технологического микроклимата в производстве интегральных микросхем : автореферат ... кандидата технических наук (05.12.18)Rätsep, Ülo1983 https://www.ester.ee/record=b1522476*est

dissertatsioon

250

artikkel ajakirjas

Коэффициенное ударное ионизацеи носителей заряда в <100> арсениде галлияRang, Toomas; Puusepp, MärtЭлектронная техника. Серия 2, Полупроводниковые приборы : научно-технический сборник1987 / с. 98-100 https://www.ester.ee/record=b2160501*est

artikkel ajakirjas

integraallülitused (märksõna)

teaviku laadid

märksõna 1