Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

376

artikkel kogumikus

Low-area boundary BIST architecture for mesh-like network-on-chipRaik, Jaan; Govind, VineethProceedings of the 2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 18-20, 2012 Tallinn, Estonia2012 / p. 95-100 : ill

artikkel kogumikus

377

artikkel kogumikus

Low-cost CAD software for teaching digital testUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Paomets, PriiduFirst European Workshop on Microelectronics Education, Villard de Lans, France, February 5-6, 1996 : proceedings1996 / p. 48

artikkel kogumikus

378

artikkel kogumikus

Low-cost CAD system for teaching digital testUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Paomets, Priidu; Ivask, Eero; Jervan, Gert; Markus, AnttiMicroelectronics education : proceedings of the European Workshop, Grenoble, France, 5-6 Feb 19961996 / p. 185-188

artikkel kogumikus

379

artikkel ajalehes

Lääne-Virumaal katsetatav kaevandusrobot säästab keskkondaNikolajev, Jürierr.ee2023 Lääne-Virumaal katsetatav kaevandusrobot säästab keskkonda

artikkel ajalehes

380

artikkel kogumikus

Mapping faults in hierarchical testing of digital systemsUbar, Raimund-JohannesInternational Conference on Computer, Communication and Control Technologies CCCT'03 and the 9th International Conference on Information Systems, Analysis and Synthesis ISAS'03 : July 31 - August 1-2, Orlando, Florida, USA : proceedings. Volume I, Computing/Information Systems and Technologies2003 / p. 14-19 : ill

artikkel kogumikus

381

artikkel kogumikus

Mapping physical defects to logic level for defect oriented testingUbar, Raimund-JohannesSCS 2003 : International Symposium on Signals, Circuits and Systems : July 10-11, 2003, Iasi, Romania : proceedings. Vol. 22003 / p. 453-456 : ill https://ieeexplore.ieee.org/document/5731320

artikkel kogumikus

382

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Material characterization for laminated glass composite panelVäer, Kaur; Anton, Johan; Klauson, Aleksander; Eerme, Martin; Õunapuu, Erko; Tšukrejev, PavelJournal of achievements in materials and manufacturing engineering2017 / p. 11-17 https://doi.org/10.5604/01.3001.0010.2032 Journal metrics at Scopus Article at Scopus

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

383

artikkel kogumikus

MCM-testMagnhagen, Bengt; Linden, HenricBEC : Baltic Electronics Conference : proceedings of the 4th Biennial Conference, October 9-14, 1994, Tallinn (Estonia). 11994 / p. 297-304: ill

artikkel kogumikus

384

artikkel kogumikus

Measuring mining influence in the form of students practice in opposition to the emotional environmental impact assessmentRobam, Karin; Väizene, Vivika; Anepaio, Ain; Kolats, Margit; Valgma, Ingo5th International Symposium "Topical Problems in the Field of Electrical and Power Engineering". Doctoral School of Energy and Geotechnology : Kuressaare, January 14-19, 20082008 / p. 62-65 : ill

artikkel kogumikus

385

artikkel ajakirjas

Meie igapäevane testimineMarkvardt, MailiA & A2010 / 3, lk. 5-11 https://artiklid.elnet.ee/record=b2183723*est

artikkel ajakirjas

386

artikkel kogumikus

A method for crosstalk fault detection in on-chip busesBengtsson, Tomas; Jutman, Artur; Ubar, Raimund-Johannes; Kumar, ShashiNorchip : proceedings : Oulu, Finland, 21-22 November 20052005 / p. 285-288 : ill https://doi.org/10.1109/NORCHP.2005.1597045

artikkel kogumikus

387

artikkel kogumikus

A method for identification dynamic parameters of mixed signal circuitsZagursky, V.; Semyonova, N.; Gertners, A.BEC : Baltic Electronics Conference : proceedings of the 4th Biennial Conference, October 9-14, 1994, Tallinn (Estonia). 11994 / p. 211-215 https://www.ester.ee/record=b2150914*est

artikkel kogumikus

388

artikkel kogumikus

A method for testing dynamic characteristics of analog-digital converters in spectral domainZagursky, V.; Semyonova, N.; Gertners, A.BEC : Baltic Electronics Conference : proceedings of the 4th Biennial Conference, October 9-14, 1994, Tallinn (Estonia). 11994 / p. 207-210 https://www.ester.ee/record=b2150914*est

artikkel kogumikus

389

artikkel kogumikus

Method for testing the brainHinrikus, Hiie; Bachmann, Maie; Lass, Jaanus; Tuulik, Viiu; Ubar, Raimund-Johannes5th European Conference of the International Federation for Medical and Biological Engineering : 14-18 September 2011, Budapest, Hungary2012 / p. 1198-1201 : ill

artikkel kogumikus

390

artikkel kogumikus

Microprocessor-based system test using debug interfaceDevadze, Sergei; Jutman, Artur; Tšertov, Anton; Instenberg, Martin; Ubar, Raimund-Johannes26th Norchip Conference : Tallinn, Estonia, 17-18 November 2008 : formal proceedings2008 / p. 98-101 : ill http://dx.doi.org/10.1109/NORCHP.2008.4738291

artikkel kogumikus

391

artikkel kogumikus

Microprogram automation : design for testabilityKeevallik, Andres; Kruus, Margus; Lensen, HarriBEC'98 : the 6th Biennial Conference on Electronics and Microsystems Technology, October 7-9, 1998, Tallinn, Estonia : proceedings1998 / p. 171-174

artikkel kogumikus

392

artikkel kogumikus

Microprogrammed test generator for bus oriented devicesSzegi, A.; Feher, B.Automation, simulation & measurement. Section A, Automation. Section M, Measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991 = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / p. 88-94: ill

artikkel kogumikus

393

artikkel ajalehes

Mida sülg suhu toob? TalTechi hargettevõte politseil abiksVaaks, Eveliistrialoog.taltech.ee2025 https://trialoog.taltech.ee/mida-sulg-suhu-toob-taltechi-hargettevote-politseil-abiks/

artikkel ajalehes

394

artikkel kogumikus

Mikroelektroonika kiipide testimise tarkvara turbo-tester : kommentaar Eesti Teaduste Akadeemia Bernhard Schmidti preemia pälvinud tööleRaik, JaanTallinna Tehnikaülikooli aastaraamat 20072008 / lk. 275-278

artikkel kogumikus

395

artikkel ajakirjas

Milleks ja kuidas katsetada laevu?Hartikainen, AnniPaat & Meremees2016 / lk. 30 http://www.ester.ee/record=b4471304*est

artikkel ajakirjas

396

artikkel ajakirjas

Milline on parim hiir? : [TTÜ tootearenduse tudengid testisid arvutihiiri]Toon, Triin; Matsi, Birthe; Otto, TaunoArvutikasutaja2005 / 8, lk. 34-37 : ill https://artiklid.elnet.ee/record=b1050729*est

artikkel ajakirjas

397

artikkel ajalehes

Milline pann osta? Kas odav pann teeb töö ära sama hästi kui kallis?Arndt-Kalju, Margit; Kirikal, Siiri; Skuin, Mari; Tarkmeel, Krõõtdelfi.ee2023 Milline pann osta? Kas odav pann teeb töö ära sama hästi kui kallis?

artikkel ajalehes

398

artikkel kogumikus

Minimization of the high-level fault model for microprocessor control parts [Online resource]Ubar, Raimund-Johannes; Oyeniran, Adeboye Stephen; Medaiyese, OlusijiBEC 2018 : 2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC) : proceedings of the 16th Biennial Baltic Electronics Conference, October 8-10, 20182018 / 4 p.: ill https://doi.org/10.1109/BEC.2018.8600980

artikkel kogumikus

399

artikkel ajalehes

Mis on head ja halba Bioestis? : [prof. Anti Viikna TTÜ teadlaste korraldatud testist]Viikna, Anti; Luts, EvaPostimees1996 / 12. nov., Kasu, lk. 3

artikkel ajalehes

400

artikkel kogumikus

Mixed bottom-up/top-down hierarchical test generation for digital systemsUbar, Raimund-JohannesProceedings of the 9th European Workshop on Dependable Computing, Gdansk, Poland, May 14-16, 19981998 / p. 37-40

artikkel kogumikus

testimine (märksõna)

teaviku laadid

märksõna 1

võtmesõna 1