Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

576

artikkel kogumikus

Using simulation statistics for bug localization in RTL designsTihhomirov, Valentin; Jenihhin, Maksim; Raik, JaanInfo- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 15.-16. novembril 2013, Haapsalu2013 / p. 107-110 : ill

artikkel kogumikus

577

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Using STLs for effective in-field test of GPUsRodriguez Condia, Josie E.; Da Silva, Felipe Augusto; Bagbaba, Ahmet Cagrl; Guerrero-Balaguera, Juan-David; Hamdioui, Said; Sauer, Christian; Reorda, Matteo SonzaIEEE Design and Test2023 / p. 109-117 https://doi.org/10.1109/MDAT.2022.3188573 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

578

artikkel kogumikus

Using Tabu Search for optimization of memory-constrained hybrid BISTKruus, Helena; Jervan, Gert; Ubar, Raimund-JohannesBEC 2008 : 2008 International Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 11th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology : October 6-8, 2008, Tallinn, Estonia2008 / p. 155-158 : ill

artikkel kogumikus

579

artikkel kogumikus

Using Tabu Search for optimization of memory-constrained hybrid BISTKruus, Helena; Jervan, Gert; Ubar, Raimund-JohannesInfo- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja2008 / p. 85-88 : ill

artikkel kogumikus

580

artikkel kogumikus

Using test pattern generation tool decider in hardware verificationViilukas, Taavi; Raik, JaanInfo- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum2007 / lk. 166-169 : ill

artikkel kogumikus

581

raamat

Uued viisid bituumensideainete kvaliteediomaduste määramiseks ja võimalused nende rakendamiseks, pidades silmas konkreetsele objektile vastavaid kriteeriume sideaine eeldatavast elueast ja kasutuskohast lähtuvalt : teadus- ja arendustöö lõpparuanne [Võrguteavik]Aavik, Andrus; Kulp, Maria; Sillamäe, Sven; Lill, Kristjan; Hesp, Simon A. M.; Teymourpour, Ponya; Bahia, Hussain2015 https://www.mnt.ee/sites/default/files/survey/bituumeniuuring_2015.pdf

raamat

582

artikkel ajalehes

Uus projekt tõstab tarkvara kvaliteetiLepmets, MarionÄripäev2006 / 23. veebr., lk. 17 https://www.aripaev.ee/uudised/2006/02/22/uus-projekt-tostab-tarkvara-kvaliteeti

artikkel ajalehes

583

artikkel kogumikus

Wafer-level die re-test success prediction using machine learningSelg, Hardi; Jenihhin, Maksim; Ellervee, Peeter21st IEEE Latin-American Test Symposium (LATS) 2020 : proceedings2020 / 5 p https://doi.org/10.1109/LATS49555.2020.9093672

artikkel kogumikus

584

artikkel ajakirjas

Validation, verification and testing of object-oriented programsTepandi, Jaak; Trausan-Matu, S.Studies and researches in computers and informatics1990 / 1, p. 113-128

artikkel ajakirjas

585

artikkel kogumikus

Variability of high voltage circuit breaker performance parameters for condition monitoringAsefi, Sajjad; Kiitam, Ivar; Manninen, Henri; Kilter, Jako; Tealane, Marko; Landsberg, MartInternational Conference on Condition Monitoring, Diagnosis and Maintenance 2023 - CMDM 2023 (7th edition), Bucharest, Romania, October 31th - November 2nd, 2023 : proceedings2023 / p. 1-10

artikkel kogumikus

586

raamat

Water hammer and column separation due to accidential simultaneous closure of control valves in a large scale two-phase flow experimental test rigBergant, Anton; Westende, Jos M.C.van't; Koppel, Tiit; Gale, Janez; Hou, Qingzhi; Pandula, Zoltan; Tijsseling, Arris S.2010 https://www.researchgate.net/publication/280624441_Water_hammer_and_column_separation_due_to_accidental_simultaneous_closure_of_control_valves_in_a_large-scale_two-phase_flow_experimental_test_rig

raamat

587

artikkel kogumikus

Water hammer and column separation due to accidential simultaneous closure of control valves in a large scale two-phase flow experimental test rigBergant, Anton; Westende, Jos M.C.van't; Koppel, Tiit; Gale, Janez; Hou, Qingzhi; Pandula, Zoltan; Tijsseling, Arris S.Proceedings of the ASME 2010 Pressure Vessels & Piping Division/K-PVP Conference : PVP2010 : July 18-22, 2010, Bellevue, Washington, USA2010 / [10] p.: ill https://www.researchgate.net/publication/280624441_Water_hammer_and_column_separation_due_to_accidental_simultaneous_closure_of_control_valves_in_a_large-scale_two-phase_flow_experimental_test_rig

artikkel kogumikus

588

artikkel kogumikus

Ways for board and system test to benefit from FPGA embedded instrumentationEhrenberg, Heiko; Odintsov, Sergei; Devadze, Sergei; Jutman, Artur; Aleksejev, Igor; Wenzel, Thomas2019 IEEE AUTOTESTCON2019 / 10 p : ill https://doi.org/10.1109/AUTOTESTCON43700.2019.8961057

artikkel kogumikus

589

artikkel kogumikus

Web services testing in e-learning environmentsÕunapuu, Enn; Tepandi, JaakSecond International Conference on Multimedia and Information & Communication Technologies in Education (m-ICTE 2003) : Badajoz, Spain, 20032003 / p. 1170-1177

artikkel kogumikus

590

artikkel kogumikus

Web-based framework for parallel distributed test [Electronic resource]Ivask, Eero; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes2008 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : Bratislava, Slovakia, April 16-18, 20082008 / p. 271-274 : ill. [CD-ROM] https://ieeexplore.ieee.org/document/4538800

artikkel kogumikus

591

artikkel ajalehes

WebTT - digitaalskeemide testimine ja diagnostikaalaste õppelaborite e-keskkond : [TTÜ arvutitehnika instituut esitles e-Ülikooli konverentsil kolme õppetöös kasutatavat süsteemi]Robal, Tarmo; Orasson, ElmetMente et Manu2005 / 5. mai, lk. 5 : fot https://www.ester.ee/record=b1242496*est

artikkel ajalehes

592

artikkel kogumikus

Verification of new 1000 [degree] C tester designed for investigation of wear-corrosion properties of advanced materials for high temperature applicationsAntonov, Maksim; Hussainova, Irina; Kimmari, Eduard; Juhani, KristjanProceedings of the 6th International Conference of DAAAM Baltic "Industrial Engineering" : 24-26th April 2008, Tallinn, Estonia. [2]2008 / p. 395-399 : ill http://innomet.ttu.ee/daaam08/online/Materials%20Engineering/Antonov.pdf

artikkel kogumikus

593

artikkel kogumikus

Verification of the test qualityMatrosova, Anjela; Bochun, TatianaBEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings1996 / p. 307-310: ill

artikkel kogumikus

594

artikkel kogumikus

Verification, testing and validation of rule-based expert systemsTepandi, JaakPreprints 11th IFAC World Congress "Automatic Control in the Service of Mankind" : Tallinn, Estonia, USSR, August 13-17, 1990. Vol. 71990 / p. 162-167

artikkel kogumikus

595

artikkel kogumikus

VHDL based test generation systemJervan, Gert; Markus, Antti; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the 5th Electronic Devices and Systems Conference, Brno, June 11-12, 19981998 / p. 145-148

artikkel kogumikus

596

artikkel kogumikus

VHDL design debug framework based on zamiaCADTihhomirov, Valentin; Tšepurov, Anton; Saif Abrar, Syed; Jenihhin, Maksim; Raik, JaanDATE 2013 : Design Automation and Test in Europe, March 18-22, 2013, Grenoble, France2013 / [1] p. : ill

artikkel kogumikus

597

artikkel ajalehes

Õpilastele tarnib kiirteste uus firmaHussar, KaroliinaEesti Päevaleht2021 / Lk. 7 https://dea.digar.ee/article/eestipaevaleht/2021/11/24/7.5

artikkel ajalehes

598

artikkel ajakirjas

Über einige Probleme der Testsatzanalyse für digitale SystemeUbar, Raimund-JohannesNachrichtentechnik, Elektronik : technisch-wissenschaftlishe Zeitschrift für die gesamte elektronische Nachrichtentechnik1977 / p. 149-150 https://www.ester.ee/record=b1550811*est

artikkel ajakirjas

599

artikkel ajakirjas

Über einige Probleme der Testsatzanalyse für digitale SystemeUbar, Raimund-JohannesWissenschaftliche Zeitschrift1976 / p. 447-449 https://www.ester.ee/record=b1516616*est

artikkel ajakirjas

600

artikkel ajakirjas

Анализ диагностических тестов для комбинационных цифровых схем методом обратного прослеживания неисправностейUbar, Raimund-JohannesАвтоматика и телемеханика1977 / с. 168-176 https://www.ester.ee/record=b1515055*est

artikkel ajakirjas

testimine (märksõna)

teaviku laadid

märksõna 1

võtmesõna 1