Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

576

artikkel kogumikus

A synthesis-agnostic behavioral fault model for high gate-level fault coverageKarputkin, Anton; Raik, Jaan2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) : proceedings2016 / p. 1124-1127 : ill https://ieeexplore.ieee.org/document/7459477/figures#figures

artikkel kogumikus

577

raamat

System assurances : modeling and management2022 https://doi.org/10.1016/C2020-0-03092-6

raamat

578

dissertatsioon

System modeling for processor-centric test automation = Süsteemide modelleerimine protsessorikesksete testprogrammide sünteesi automatiseerimiseksTšertov, Anton2012 https://www.ester.ee/record=b2751131*est

dissertatsioon

579

dissertatsioon

A system of test patterns to check and validate the semantic hierarchies of wordnet-type dictionaries = Testmustrite süsteem wordnet-tüüpi sõnastike semantiliste hierarhiate kontrollimiseks ja valideerimiseksLohk, Ahti2015 http://www.ester.ee/record=b4495412*est

dissertatsioon

580

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

A systematic approach on modeling refinement and regression testing of real-time distributed systemsPal, Deepak; Vain, JüriIFAC-PapersOnLine2019 / p. 1091-1096 https://doi.org/10.1016/j.ifacol.2019.11.341 Conference proceedings at Scopus Article at Scopus Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

581

artikkel kogumikus

zamiaCAD : understand, develop and debug hardware designsJenihhin, Maksim; Tihhomirov, Valentin; Saif Abrar, Syed; Raik, Jaan; Bartsch, GünterDUHDe : 1st Workshop on Design Automation for Understanding Hardware Designs : March 28, 2014 : Friday Workshop at DATE 2014, Dresden, Germany2014 / p. 1-6

artikkel kogumikus

582

artikkel ajalehes

Tallinna kooli õpilased lõid Baltikumi esimese keskkonnasõbralike filtritega õhupuhastiÕigus, Birgitmoodnekodu.delfi.ee2023 Tallinna kooli õpilased lõid Baltikumi esimese keskkonnasõbralike filtritega õhupuhasti

artikkel ajalehes

583

artikkel ajalehes

Tallinnas avati NATO DIANA piirkondlik keskusEesti Elu : [Kanada ajaleht]2024 / lk. 2

artikkel ajalehes

584

artikkel ajalehes

TalTech käivitab 5G testvõrgud. Eesti firmad saavad arendada teenuseid välisturgudeleKald, Indrekituudised.ee2023 TalTech käivitab 5G testvõrgud. Eesti firmad saavad arendada teenuseid välisturgudele

artikkel ajalehes

585

artikkel ajalehes

TalTechis hakatakse testima 6G võrku. Margus Rohtla: „Oleks vaid minu õpingute ajal sellised võimalused olnud!“Lindpere, Elle Isabelforte.delfi.ee2023 TalTechis hakatakse testima 6G võrku. Margus Rohtla: „Oleks vaid minu õpingute ajal sellised võimalused olnud!“

artikkel ajalehes

586

artikkel kogumikus

Targeting conditional operations in sequential test pattern generationRaik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes9th European Test Symposium : ETS'04 : Congress Center, Ajaccio, Corsica, France,May 23-26, 20042004 / p. 17-18 : ill https://www.researchgate.net/publication/239717327_Targeting_Conditional_Operations_in_Sequential_Test_Pattern_Generation

artikkel kogumikus

587

artikkel ajakirjas

Tarkvara omaduste parandamine kasutatavuse testimise kauduEessaar, ErkiA & A1999 / 2, lk. 26-31

artikkel ajakirjas

588

artikkel ajakirjas

Tarkvara testimisest ja testijatest EestisMarkvardt, MailiA & A2010 / 3, lk. 62-65

artikkel ajakirjas

589

artikkel kogumikus

Teaching advanced test issues in digital electronicsUbar, Raimund-Johannes; Orasson, Elmet; Raik, Jaan; Wuttke, Heinz-DietrichProceedings of the 6th IEEE International Conference on Information Technology Based Higher Education and Training : ITHET : July 7-9, 2005, Juan Dolio, Dominican Republic2005 / p. S2B-1 - S2B-6 : ill http://dx.doi.org/10.1109/ITHET.2005.1560318

artikkel kogumikus

590

artikkel kogumikus

Teaching digital RT-level self-test using a Java appletDevadze, Sergei; Jutman, Artur; Sudnitsõn, Aleksander; Ubar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-Dietrich20th IEEE NORCHIP Conference : Copenhagen, Denmark, November 11-12, 20022002 / p. 322-328 : ill

artikkel kogumikus

591

artikkel kogumikus

Teaching digital system testOyeniran, Adeboye Stephen; Ubar, Raimund-Johannes; Kruus, MargusThe 27th EAEEIE Annual Conference : June 7-9, 2017, Grenoble2017 / [6] p

artikkel kogumikus

592

artikkel kogumikus

Teaching digital test with BIST analyzerJutman, Artur; Tšertov, Anton; Tšepurov, Anton; Aleksejev, Igor; Ubar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-Dietrich19th EAEEIE Annual Conference : June 29-July 2, 2008, Tallinn, Estonia : formal proceedings2008 / p. 123-128 : ill http://dx.doi.org/10.1109/EAEEIE.2008.4610171

artikkel kogumikus

593

artikkel kogumikus

Teaching test and design for testability with TURBO-TESTER softwareJervan, Gert; Markus, Antti; Paomets, Priidu; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the 3rd Workshop on Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, Lodz, May 19961996 / p. 589-594

artikkel kogumikus

594

artikkel ajakirjas

Tehnikaülikoolis on uus katseseade, mis võib välja panna Abramsi tanki kaaluEhitaja2023 / lk. 35 : fot https://www.ester.ee/record=b1072123*est https://artiklid.elnet.ee/record=b2904596*est

artikkel ajakirjas

595

artikkel kogumikus

Temporally extended high-level decision diagrams for PSL assertions simulationJenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Tšepurov, Anton; Ubar, Raimund-JohannesProceedings : Thirteenth IEEE European Test Symposium : ETS 2008 : 25-29 May 2008, Verbania, Italy2008 / p. 61-68 : ill https://ieeexplore.ieee.org/document/4556029

artikkel kogumikus

596

artikkel kogumikus

Tension stiffening model based on test data of RC beamsIdnurm, Siim; Bacinskas, Darius; Gribniak, Viktor; Sokolov, Aleksandr; Kaklauskas, GintarisThe 10th International Conference "Modern Building Materials, Structures and Techniques" : May 19-21, 2010, Lithuania : selected papers2010 / p. 810-814 : ill https://www.researchgate.net/publication/265635200_Tension-stiffening_model_based_on_test_data_of_RC_beams

artikkel kogumikus

597

artikkel ajakirjas

10th IEEE European Test SymposiumUbar, Raimund-Johannes; Prinetto, Paolo; Raik, JaanIEEE journal of design & test of computers2005 / p. 480-481 : phot http://dx.doi.org/10.1109/MDT.2005.106

artikkel ajakirjas

598

artikkel kogumikus

"Tervis ruudus", ehk, Tippkeskuse CEBE luguUbar, Raimund-JohannesTeadusmõte Eestis (X). Tehnikateadused. 3 : [artiklikogumik]2019 / lk. 200-215 : ill., fot https://www.ester.ee/record=b5208765*est

artikkel kogumikus

599

artikkel kogumikus

Test cost minimization for hybrid BISTJervan, Gert; Peng, Zebo; Ubar, Raimund-JohannesIEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : 25-27 October 2000, Yamanashi, Japan : proceedings2000 / p. 283-298 : ill https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/887168

artikkel kogumikus

600

artikkel kogumikus

Test development and deployment tool-set for mixed-signal and digital devicesMellik, Andres; Raik, JaanBEC 2008 : 2008 International Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 11th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology : October 6-8, 2008, Tallinn, Estonia2008 / p. 163-166 : ill

artikkel kogumikus

testimine (märksõna)

teaviku laadid

märksõna 1

võtmesõna 1