Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

551

dissertatsioon

Symbolic test generation for hierarchically modeled digital systemsZaugarov, Viktor1993 https://www.ester.ee/record=b2090336*est

dissertatsioon

552

artikkel kogumikus

Synthesis of decision diagrams from clock-driven multi-process VHDL descriptions for test generationLeveugle, R.; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the 5th International Conference on Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, Lodz, Poland, June 18-20, 19981998 / p. 353-358 https://hal.science/ccsd-00015077/

artikkel kogumikus

553

artikkel kogumikus

Synthesis of hierarchically testable FSM networksKasirova, Lilia; Keevallik, Andres; Kruus, MargusBEC : Baltic Electronics Conference : proceedings of the 4th Biennial Conference, October 9-14, 1994, Tallinn (Estonia). 11994 / p. 347-352: ill

artikkel kogumikus

554

artikkel kogumikus

Synthesis of high-level decision diagrams for functional test pattern generationUbar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Karputkin, Anton; Tombak, MatiProceedings of the 16th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems MIXDES 2009 : Lodz, Poland, 25-27 June, 20092009 / p. 519-524 : ill

artikkel kogumikus

555

artikkel kogumikus

Synthesis of multiple fault oriented test groups from single fault test sets [Electronic resource]Ubar, Raimund-Johannes; Kostin, Sergei; Raik, Jaan2013 8th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS) : 26-28 March 2013, Abu Dhabi, UAE2013 / p. 36-41 : ill [CD-ROM]

artikkel kogumikus

556

artikkel kogumikus

Synthesis of on-line planning tester for non-deterministic EFSM modelsKääramees, Marko; Vain, Jüri; Raiend, KulloTesting - Practice and Research Techniques : 5th International Academic and Industrial Conference TAIC PART 2010 : Windsor, UK, September 3-5, 2010 : proceedings2010 / p. 147-154 https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-3-642-15585-7_14

artikkel kogumikus

557

artikkel kogumikus

Synthesis of test purpose directed reactive planning tester for nondeterministic systemsVain, Jüri; Raiend, Kullo; Kull, Andres; Ernits, Juhan-Peep22nd IEEE/ACM International Conference on Automated Software Engineering (ASE 2007) : November 5-9, 2007, Atlanta, Georgia, USA2007 / p. 363-372 https://www.researchgate.net/publication/220883693_Synthesis_of_test_purpose_directed_reactive_planning_tester_for_nondeterministic_systems

artikkel kogumikus

558

artikkel kogumikus

Synthesis of test purpose directed reactive planning tester for nondeterministic systems (extended abstracts)Vain, Jüri; Raiend, Kullo; Kull, Andres; Ernits, Juhan-PeepNWTP'07/FLACOS'07 Workshop Proceedings : Oslo, 10-12 October 20072007 / p. 55-57

artikkel kogumikus

559

raamat

System assurances : modeling and management2022 https://doi.org/10.1016/C2020-0-03092-6

raamat

560

dissertatsioon

System modeling for processor-centric test automation = Süsteemide modelleerimine protsessorikesksete testprogrammide sünteesi automatiseerimiseksTšertov, Anton2012 https://www.ester.ee/record=b2751131*est

dissertatsioon

561

dissertatsioon

A system of test patterns to check and validate the semantic hierarchies of wordnet-type dictionaries = Testmustrite süsteem wordnet-tüüpi sõnastike semantiliste hierarhiate kontrollimiseks ja valideerimiseksLohk, Ahti2015 http://www.ester.ee/record=b4495412*est

dissertatsioon

562

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

A systematic approach on modeling refinement and regression testing of real-time distributed systemsPal, Deepak; Vain, JüriIFAC-PapersOnLine2019 / p. 1091-1096 https://doi.org/10.1016/j.ifacol.2019.11.341 Conference proceedings at Scopus Article at Scopus Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

563

artikkel kogumikus

zamiaCAD : understand, develop and debug hardware designsJenihhin, Maksim; Tihhomirov, Valentin; Saif Abrar, Syed; Raik, Jaan; Bartsch, GünterDUHDe : 1st Workshop on Design Automation for Understanding Hardware Designs : March 28, 2014 : Friday Workshop at DATE 2014, Dresden, Germany2014 / p. 1-6

artikkel kogumikus

564

artikkel ajalehes

Tallinna kooli õpilased lõid Baltikumi esimese keskkonnasõbralike filtritega õhupuhastiÕigus, Birgitmoodnekodu.delfi.ee2023 Tallinna kooli õpilased lõid Baltikumi esimese keskkonnasõbralike filtritega õhupuhasti

artikkel ajalehes

565

artikkel ajalehes

Tallinnas avati NATO DIANA piirkondlik keskusEesti Elu : [Kanada ajaleht]2024 / lk. 2

artikkel ajalehes

566

artikkel ajalehes

TalTech käivitab 5G testvõrgud. Eesti firmad saavad arendada teenuseid välisturgudeleKald, Indrekituudised.ee2023 TalTech käivitab 5G testvõrgud. Eesti firmad saavad arendada teenuseid välisturgudele

artikkel ajalehes

567

artikkel ajalehes

TalTechis hakatakse testima 6G võrku. Margus Rohtla: „Oleks vaid minu õpingute ajal sellised võimalused olnud!“Lindpere, Elle Isabelforte.delfi.ee2023 TalTechis hakatakse testima 6G võrku. Margus Rohtla: „Oleks vaid minu õpingute ajal sellised võimalused olnud!“

artikkel ajalehes

568

artikkel kogumikus

Targeting conditional operations in sequential test pattern generationRaik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes9th European Test Symposium : ETS'04 : Congress Center, Ajaccio, Corsica, France,May 23-26, 20042004 / p. 17-18 : ill https://www.researchgate.net/publication/239717327_Targeting_Conditional_Operations_in_Sequential_Test_Pattern_Generation

artikkel kogumikus

569

artikkel ajakirjas

Tarkvara omaduste parandamine kasutatavuse testimise kauduEessaar, ErkiA & A1999 / 2, lk. 26-31

artikkel ajakirjas

570

artikkel ajakirjas

Tarkvara testimisest ja testijatest EestisMarkvardt, MailiA & A2010 / 3, lk. 62-65

artikkel ajakirjas

571

artikkel kogumikus

Teaching advanced test issues in digital electronicsUbar, Raimund-Johannes; Orasson, Elmet; Raik, Jaan; Wuttke, Heinz-DietrichProceedings of the 6th IEEE International Conference on Information Technology Based Higher Education and Training : ITHET : July 7-9, 2005, Juan Dolio, Dominican Republic2005 / p. S2B-1 - S2B-6 : ill http://dx.doi.org/10.1109/ITHET.2005.1560318

artikkel kogumikus

572

artikkel kogumikus

Teaching digital RT-level self-test using a Java appletDevadze, Sergei; Jutman, Artur; Sudnitsõn, Aleksander; Ubar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-Dietrich20th IEEE NORCHIP Conference : Copenhagen, Denmark, November 11-12, 20022002 / p. 322-328 : ill

artikkel kogumikus

573

artikkel kogumikus

Teaching digital system testOyeniran, Adeboye Stephen; Ubar, Raimund-Johannes; Kruus, MargusThe 27th EAEEIE Annual Conference : June 7-9, 2017, Grenoble2017 / [6] p

artikkel kogumikus

574

artikkel kogumikus

Teaching digital test with BIST analyzerJutman, Artur; Tšertov, Anton; Tšepurov, Anton; Aleksejev, Igor; Ubar, Raimund-Johannes; Wuttke, Heinz-Dietrich19th EAEEIE Annual Conference : June 29-July 2, 2008, Tallinn, Estonia : formal proceedings2008 / p. 123-128 : ill http://dx.doi.org/10.1109/EAEEIE.2008.4610171

artikkel kogumikus

575

artikkel kogumikus

Teaching test and design for testability with TURBO-TESTER softwareJervan, Gert; Markus, Antti; Paomets, Priidu; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the 3rd Workshop on Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, Lodz, May 19961996 / p. 589-594

artikkel kogumikus

testimine (märksõna)

teaviku laadid

märksõna 1

võtmesõna 1