Otsing - TalTech teadusportaal

Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English

Publikatsioonid

Publikatsioonid

Otsing

Valitud kirjed 0

Jenihhin, Maksim (autor)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

Kirjeid leitud 180
Vaata veel.. (3/30)
Ekspordi

ekspordi kõik päringu tulemused (180)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
176

artikkel kogumikus

Unsupervised recycled FPGA detection using symmetry analysisTarique, Tanvir Ahmad; Ahmed, Foisal; Jenihhin, Maksim; Ali, Liakot12th International Conference on Electrical and Computer Engineering : ICECE 20222022 / p. 437-440 https://doi.org/10.1109/ICECE57408.2022.10088856

artikkel kogumikus
177

artikkel kogumikus

Upgrading QoSinNoC : efficient routing for mixed-criticality applications and power analysisAvramenko, Serhiy; Azad, Siavoosh Payandeh; Violante, Massimo; Niazmand, Behrad; Raik, Jaan; Jenihhin, MaksimProceedings of the 2018 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC) : October 8-10, 2018, Verona, Italy2018 / p. 207-212 : ill https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC.2018.8644866

artikkel kogumikus
178

artikkel kogumikus

Using simulation statistics for bug localization in RTL designsTihhomirov, Valentin; Jenihhin, Maksim; Raik, JaanInfo- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK seitsmenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 15.-16. novembril 2013, Haapsalu2013 / p. 107-110 : ill

artikkel kogumikus
179

artikkel kogumikus

Wafer-level die re-test success prediction using machine learningSelg, Hardi; Jenihhin, Maksim; Ellervee, Peeter21st IEEE Latin-American Test Symposium (LATS) 2020 : proceedings2020 / 5 p https://doi.org/10.1109/LATS49555.2020.9093672

artikkel kogumikus
180

artikkel kogumikus

VHDL design debug framework based on zamiaCADTihhomirov, Valentin; Tšepurov, Anton; Saif Abrar, Syed; Jenihhin, Maksim; Raik, JaanDATE 2013 : Design Automation and Test in Europe, March 18-22, 2013, Grenoble, France2013 / [1] p. : ill

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 180, kuvan 176 - 180

eelmine
1
2
3
4
5
6
7
8
järgmine

1. Jenihhin, Maksim
2. Andrijaškin, Maksim
3. Antonov, Maksim
4. Butsenko, Maksim
5. Gorev, Maksim
6. Maksim, I.
7. Maksim, Tiit
8. Mõttus, Maksim
9. Ošeka, Maksim
10. Radzvilovits, Maksim
11. Ruchkin, Maksim
12. Saat, Maksim
13. Säkki, Maksim
14. Zelenski, Maksim

1. Jenihhin, Maksim
2. Antonov, Maksim
3. Butsenko, Maksim
4. Gazizov, Maksim 1918-?
5. Oseka, Maksim
6. Osheka, Maksim
7. Ošeka, Maksim
8. Saat, Maksim
9. Säkki, Maksim

1. Jenihhin, Maksim
2. Antonov, Maksim
3. Butsenko, Maksim
4. Gorev, Maksim
5. Gorki, Maksim, pseud., 1868-1936
6. Ošeka, Maksim
7. Saat, Maksim

vaste

reasta

Otsing
Valikud 0

ilmumisaasta

autor

TTÜ struktuuriüksus

märksõna

seeria-sari

tema kohta

võtmesõna

TalTech Raamatukogu

Akadeemia tee 1

13519

TalTech koduleht TalTech Raamatukogu koduleht Digikogu Digiteek Teadusandmed

6203551

data@taltech.ee

TalTech Raamatukogu