Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
implementation-independent test generation (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(1/49)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Implementation-independent test generation for a large class of faults in RISC processor modules
Jenihhin, Maksim
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
24th Euromicro Conference on Digital System Design (DSD)
2021
https://doi.org/10.1109/DSD53832.2021.00090
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
49
1.
implementation-independent test generation
2.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
3.
adaptive test strategy generation
4.
automated test pattern generation
5.
automatic test case generation
6.
automatic test pattern generation
7.
automatic test program generation
8.
behaviour level test generation
9.
functional test generation
10.
Hierarchical Multi-level Test Generation
11.
high-level test data generation
12.
highlevel test generation
13.
offline test generation
14.
provably correct test generation
15.
test generation
16.
test generation and fault diagnosis
17.
Test Group Generation for Detecting Multiple Faults
18.
test program generation
19.
data-independent acquisition
20.
distributed independent reinforcement learning
21.
fast independent component analysis
22.
load-independent voltage output
23.
non-identical and independent distributions (Non-IID)
24.
quanta independent
25.
CDIO implementation
26.
design and implementation of Performance Management Systems
27.
Europe and digital implementation
28.
FPGA implementation
29.
fractional control implementation
30.
hardware implementation
31.
IDMP implementation challenges
32.
implementation
33.
implementation barrier
34.
implementation challenges
35.
implementation of change
36.
implementation of IFRS
37.
implementation of IFRS for small and medium-sized entities (SMEs)
38.
implementation of IFRS for SMEs
39.
implementation of innovations
40.
implementation of International Financial Reporting Standards (IFRS)
41.
implementation process
42.
implementation technology
43.
National implementation
44.
PLM implementation
45.
PLM implementation strategy
46.
policy implementation
47.
software implementation
48.
technology implementation
49.
tool-supported implementation
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT