Evolutionary approach to test generation for functional BIST
autor
Skobtsov, Y.A.
Ivanov, D.E.
Skobtsov, V.Y.
Ubar, Raimund-Johannes
Raik, Jaan
vastutusandmed
Y.A.Skobtsov, D.E.Ivanov, V.Y.Skobtsov, R.Ubar, J.Raik
allikas
Informal Digest of Papers : 10 IEEE European Test Symposium : Tallinn, Estonia, May 22-25, 2005
ilmumiskoht
[Tallinn
kirjastus/väljaandja
Tallinn University of Technology]
ilmumisaasta
2005
leheküljed
p. 151-155 : ill
leitav
https://artiklid.elnet.ee/record=b1018764*est
märksõna
elektronlülitused
teimimine
raalteimimine
märkused
Bibliogr.: 11 ref
keel
inglise