DefSim: CMOS defects on chip for research and education
autor
Pleskacz, Witold A.
Borejko, Tomasz
Walkanis, A.
Stopjakova, Viera
Jutman, Artur
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
W.A.Pleskacz, T.Borejko, A.Walkanis, V.Stopjakova, A.Jutman, R.Ubar
allikas
7th IEEE Latin American Test Workshop LATW'06 : Buenos Aires, Argentina, March 26th-29th, 2006 : proceedings
ilmumiskoht
Porto Alegre
kirjastus/väljaandja
Evangraf
ilmumisaasta
2006
leheküljed
p. 74-79 : ill
märksõna
integraallülitused
vead
uuringud
ISBN
85-7727-022-X
märkused
Bibliogr.: 11 ref
keel
inglise