Rejuvenation of nanoscale logic at NBTI-critical paths using evolutionary TPG
autor
Palermo, N.
Tihhomirov, Valentin
Copetti, Thiago
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
Kostin, Sergei
vastutusandmed
N. Palermo, V. Tihhomirov, T.S. Copetti, M. Jenihhin, J. Raik, S. Kostin, ... [et al.]
allikas
2015 16th Latin American Test Symposium (LATS 2015) : Puerto Vallarta, Mexico, 25-27 March 2015
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2015
leheküljed
[6] p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
16th Latin American Test Symposium, 25-27 March, 2015
konverentsi toimumispaik
Puerto Vallarta, Mexico
leitav
http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2015.7102405
märksõna
riistvara
elutsüklid (tehnika)
elektronlülitused
rikked
diagnostika (tehnika)
algoritmid
võtmesõna
hardware rejuvenation
aging
NBTI
critical path identification
logic circuit
evolutionary computation
MicroGP
zamiaCAD
ISSN
2373-0862
ISBN
978-1-4673-6711-0
märkused
Bibliogr.: 33 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise