Energy minimization for hybrid BIST in a system-on-chip test environment

vastutusandmed
Raimund Ubar, Tatjana Shchenova, Gert Jervan, Zebo Peng
ilmumiskoht
Los Alamitos
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 2-7 : ill
ISBN
0-7695-2341-2
märkused
Bibliogr.: 30 ref
Ubar, R.-J., Shchenova, T., Jervan, G., Peng, Z. Energy minimization for hybrid BIST in a system-on-chip test environment // European Test Symposium : ETS 2005 : 22-25 May 2005, Tallinn, Estonia : proceedings. Los Alamitos : IEEE, 2005. p. 2-7 : ill.