Fault modeling and test generation with low- and high-level decision diagrams

vastutusandmed
Raimond Ubar
allikas
24. GI/GMM/ITG-Workshop : Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen
ilmumiskoht
[Cottbus]
kirjastus/väljaandja
[Brandenburgische Technische Universität Cottbus]
ilmumisaasta
leheküljed
p. 1-12
konverentsi nimetus, aeg
24. GI/GMM/ITG-Workshop: Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, 26.-28. Februar, 2012
konverentsi toimumispaik
Cottbus, Germany
keel
inglise
Ubar, R. Fault modeling and test generation with low- and high-level decision diagrams // 24. GI/GMM/ITG-Workshop : Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen. [Cottbus] : [Brandenburgische Technische Universität Cottbus], 2012. p. 1-12.