Jervan, G., Kruus, H., Orasson, E., Ubar, R.-J.

full record print

Optimization of memory-constrained hybrid BIST for testing core-based systems

author

Jervan, Gert

Kruus, Helena

Orasson, Elmet

Ubar, Raimund-Johannes

statement of authorship

Gert Jervan, Helena Kruus, Elmet Orasson, Raimund Ubar

source

Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum

location of publication

[Tallinn]

publisher

[Tallinna Tehnikaülikool]

year of publication

2007

pages

lk. 133-136 : ill

ISBN

978-9985-59-700-2

notes

Bibliogr.: 17 nim

language

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

subject term

digitaaltehnika

testimine

Jervan, G., Kruus, H., Orasson, E., Ubar, R.-J. Optimization of memory-constrained hybrid BIST for testing core-based systems // Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum. [Tallinn] : [Tallinna Tehnikaülikool], 2007. lk. 133-136 : ill.