Jervan, G., Kruus, H., Orasson, E., Ubar, R.-J.

täiskirje prindi

Optimization of memory-constrained hybrid BIST for testing core-based systems

autor

Jervan, Gert

Kruus, Helena

Orasson, Elmet

Ubar, Raimund-Johannes

vastutusandmed

Gert Jervan, Helena Kruus, Elmet Orasson, Raimund Ubar

allikas

Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum

ilmumiskoht

[Tallinn]

kirjastus/väljaandja

[Tallinna Tehnikaülikool]

ilmumisaasta

2007

leheküljed

lk. 133-136 : ill

ISBN

978-9985-59-700-2

märkused

Bibliogr.: 17 nim

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

digitaaltehnika

testimine

Jervan, G., Kruus, H., Orasson, E., Ubar, R.-J. Optimization of memory-constrained hybrid BIST for testing core-based systems // Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum. [Tallinn] : [Tallinna Tehnikaülikool], 2007. lk. 133-136 : ill.