New technique for hierarchical identification of untestable faults in sequential circuits
statement of authorship
Anna Krivenko, Raimund Ubar, Jaan Raik, Margus Kruus
location of publication
[Tallinn
publisher
year of publication
pages
lk. 155-158 : ill
subject term
ISBN
978-9985-59-782-8
notes
Bibliogr.: 8 ref
language
inglise
Krivenko, A., Ubar, R., Raik, J., Kruus, M. New technique for hierarchical identification of untestable faults in sequential circuits // Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja. [Tallinn : TTÜ kirjastus], 2008. lk. 155-158 : ill.