prindi

New technique for hierarchical identification of untestable faults in sequential circuits

autor
Krivenko, Anna
Ubar, Raimund-Johannes
Raik, Jaan
Kruus, Margus
vastutusandmed
Anna Krivenko, Raimund Ubar, Jaan Raik, Margus Kruus
allikas
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja
ilmumiskoht
[Tallinn
kirjastus/väljaandja
TTÜ kirjastus]
ilmumisaasta
2008
leheküljed
lk. 155-158 : ill
märksõna
digitaalintegraallülitused
rikked
identifitseerimine
ISBN
978-9985-59-782-8
märkused
Bibliogr.: 8 ref
keel
inglise
Krivenko, A., Ubar, R., Raik, J., Kruus, M. New technique for hierarchical identification of untestable faults in sequential circuits // Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja. [Tallinn : TTÜ kirjastus], 2008. lk. 155-158 : ill.