Searching - TalTech Research Portal

display

sort

86226

journal article

Shveisitud silladLunin, M.T1935 / lk. 5-10 : joon., fot

journal article

86227

journal article

Shweitsi raudteede elektrifitseerimineEesti Tehnika Seltsi Ajakiri1919 / lk. 11

journal article

86228

newspaper article

SI süsteem füüsika õpetamiselSchults, KaljoNõukogude Õpetaja : Eesti NSV Riikliku Hariduskomitee ning Haridus- ja Teadustöötajate Ametiühingu Eesti Vabariikliku Komitee häälekandja1975 / lk. 3 https://www.ester.ee/record=b1237176*est https://dea.digar.ee/cgi-bin/dea?a=cl&cl=CL1&sp=noukogudeopetaja

newspaper article

86229

journal article

Si vis pacemOttis, RainMente et Manu2025 / lk. 4-7 : fot https://www.ester.ee/record=b1242496*est

journal article

86230

journal article

Siberi mammuti luukeemia meenutab lõvi omaImeline Teadus2026 / lk. 19 : ill https://www.ester.ee/record=b2747925*est

journal article

86231

newspaper article

Siberi-teele saadeti 19 ešeloniRuusmann, AntsRahva Hääl1992 / 25. märts

newspaper article

86232

book article EST / book article ENG

SiC JBS diode symmetrical voltage doubler represented as the diffusion-welded stackKorolkov, Oleg; Land, Raul; Toompuu, Jana; Sleptšuk, Natalja; Rang, ToomasSilicon carbide and related materials 2017 : ICSCRM 2017 : selected, peer reviewed papers from the 2017 International Conference on Silicon Carbide and related materials, September 17-22, 2017, Washington, DC, USA2018 / p. 862–865 : ill https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.924.862 Conference Proceedings at Scopus Article at Scopus

book article EST / book article ENG

86233

book article

SiC Schottky diode for power convertersPikkov, Mihhail; Rang, ToomasPEDC 2001 : Power Electronics Devices Compatibility : 2nd conference : 3-5 September 2001, Zielona Gora, Poland2001 / p. 156-161 : ill

book article

86234

book article

SiC Schottky diode for use in power convertorsPikkov, Mihhail; Rang, Toomas; Pokatilov, AndreiBEC 2006 : 2006 International Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 2-4, 2006, Tallinn, Estonia : proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference2006 / p. 245-246 : ill

book article

86235

book article EST / book article ENG

SIC schottky diode rectifier bridge represented as the diffusion-welded stackKorolkov, Oleg; Kozlovski, Vitali V.; Lebedev, Alexander A.; Land, Raul; Sleptšuk, Natalja; Toompuu, Jana; Rang, ToomasSilicon Carbide and Related Materials 2016 : selected, peer reviewed papers from the 11th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2016 (ECSCRM 2016), September 25-29, 2016, Halkidiki, Greece2017 / p. 697-700 : ill https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.897.697 Conference proceedings at Scopus Article at Scopus

book article EST / book article ENG

86236

book article

SIC schottky diode rectifier bridge represented as the diffusion-welded stackKorolkov, Oleg; Land, Raul; Sleptšuk, Natalja; Toompuu, Jana; Rang, Toomas11th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials : September 25-29, 2016, Porto Carras Grand Resort, Halkidiki, Greece : [poster session]2016 / p. 42

book article

86237

journal article

SiC и GaAs диоды в устройствах силовой электроникиBlinov, Andrei; Vinnikov, Dmitri; Rang, ToomasТехнiчна електродинамiка : тематичний випуск : силова електрониiка та енергоефективнiсть2012 / с. 42-46 : ил

journal article

86238

newspaper article

Sic! : [sündmused Tallinna Tehnikaülikoolis : rubriik]Mente et Manu2004 / 27. jaan., lk. 4 ; 20. veebr., lk. 6 ; 30. märts, lk. 8 ; 27. apr., 13. mai, 26. mai, lk. 6 ; 11. juuni, lk. 8 https://www.ester.ee/record=b1242496*est

newspaper article

86239

newspaper article

Sic! : [sündmused Tallinna Tehnikaülikoolis : rubriik]Viin, KadriMente et Manu2002 / 29. jaan., lk. 6; 5. veebr., 12. veebr., 19. veebr., 26. veebr., 5. märts, 12. märts, 19. märts, 26. märts, 9. apr., 16. apr., 23. apr., lk. 4; 30. apr., lk. 6; 14. mai, 21. mai, 28. mai, lk. 4; 18. juuni, 3. sept., lk. 6; 24. sept., 1. okt., 8. okt., 15. okt., 22. okt., 29. okt., 5. nov., 12. nov., 19. nov., lk. 4; 3. dets., lk. 8; 21. dets., lk.3 https://www.ester.ee/record=b1242496*est

newspaper article

86240

newspaper article

Sic! : [sündmused Tallinna Tehnikaülikoolis : rubriik]Mente et Manu2000 / 4. sept., lk. 6-7 ; 11. sept., lk. 4 ; 18. sept., lk. 7 ; 2. okt., lk. 4 ; 9. okt., lk. 7, 17. okt., lk. 4 ; 24. okt., lk. 4 ; 31. okt., lk. 4 ; 7. nov., lk. 4 ; 14. nov., lk. 4 ; 28. nov., lk. 4 ; 5. dets., lk. 4 ; 12. dets., lk. 4 https://www.ester.ee/record=b1242496*est

newspaper article

86241

newspaper article

Sic! : [sündmused Tallinna Tehnikaülikoolis : rubriik]Mente et Manu2001 / 13. nov., 20. nov., 27. nov., 4. dets., 11. dets., lk. 4 https://www.ester.ee/record=b1242496*est

newspaper article

86242

newspaper article

Sic! : [sündmused Tallinna Tehnikaülikoolis : rubriik]Mente et Manu2001 / 30. jaan., 6. veebr., 13. veebr., 20. veebr., lk. 4 ; 27. veebr., 6. märts, lk. 6 ; 13. märts, 20. märts, 27. märts, 3. apr., 10. apr., 17. apr., 24. apr., lk. 4 ; 3. mai, lk. 3 ; 15. mai, 22. mai, 29. mai, 5. juuni, 12. juuni, 4. sept., lk. 4 ; 11. sept., lk. 6 ; 25. sept., 2. okt., lk. 4 ; 9. okt., lk. 8 ; 23. okt., 30. okt., 6. nov., lk. 4 https://www.ester.ee/record=b1242496*est

newspaper article

86243

newspaper article

Sic! : [sündmused Tallinna Tehnikaülikoolis : rubriik]Mente et Manu2003 / 4. veebr., lk. 4 ; 11. veebr., lk. 6 ; 18. veebr., lk. 4 ; 25. veebr., 1. apr., lk. 8 ; 15. apr., lk. 4 ; 25. apr., lk. 8 ; 13. mai, lk. 4 ; 28. mai, lk. 8 ; 11. juuni, 17. juuni, lk. 4 ; 1. okt., lk. 8 ; 20. okt., 3. nov., lk. 6 ; 19. nov., lk. 4 ; 19. dets., lk. 7

newspaper article

86244

journal article

SiC-diodes forward surge current failure mechanisms : experiment and simulationUdal, Andres; Velmre, EnnMicroelectronics reliability1997 / p. 1671-1674 https://doi.org/10.1016/S0026-2714(97)00136-4

journal article

86245

book article

SiC-diodes forward surge current failure mechanisms : experiment and simulationVelmre, Enn; Udal, AndresESREF'97 : proceedings of the 8th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Oct. 7-10, 1997, Bordeaux, France1997 / p. 1671-1674 https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0026271497001364

book article

86246

journal article

Sicherheit und SchutzDurst, SusanneReturn2022 / S. 30-31 https://doi.org/10.1007/s41964-022-0981-y

journal article

86247

journal article

Sicherung der Einheitlichkeit von SchichtdickenmessungenLaaneots, ReinFeingerätetechnik : wissenschaftlich-technische Zeitschrift für Entwicklung, Fertigung und Anwendung von Feingeräten1977 / S. 53-55 : Ill https://www.ester.ee/record=b1511033*est

journal article

86248

book article

Side areng ja sidepoliitika meil ja mujal : avalik loeng 13. mail 1997 TTÜsMännik, JaanTallinna Tehnikaülikooli aastaraamat 19971998 / lk. 186-189

book article

86249

journal article

Side- ja isoleermaterjalide tööstuse tegevuse korraldamise juhendENSV Teataja1940 / 21, art. 234, lk. 189-190

journal article

86250

journal article

Side- ja raadiotehnikaspetsialistide ettevalmistamisestHeinrichsen, VladimirSide. Raadio. Televisioon : infoseeria 101983 / lk. 1-6 https://www.ester.ee/record=b1232303*est

journal article

types of item