Fast static compaction of test sequences using implications and greedy search
autor
Raik, Jaan
Jutman, Artur
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
J.Raik, A.Jutman, R.Ubar
allikas
ETW 2001 : IEEE European Test Workshop : Stockholm, May 29 June 1, 2001 : informal digest
ilmumiskoht
[S. l.]
ilmumisaasta
2001
leheküljed
p. 207-209 : ill
leitav
https://www.semanticscholar.org/paper/Fast-Static-Compaction-of-Test-Sequences-using-and-Raik-Jutman/3a7a8ddda6e63d3e2fde0c8650d4518851746221
märksõna
testid
testimine
geneetilised algoritmid
märkused
Bibliogr.: 13 ref
keel
inglise