Raik, J., Ubar, R.-J., Govind, V. - TalTech teadusportaal

täiskirje prindi

Test configurations for diagnosing faulty links in NoC switches

autor

Raik, Jaan

Ubar, Raimund-Johannes

Govind, Vineeth

vastutusandmed

Jaan Raik, Raimund Ubar, Vineeth Govind

allikas

Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum

ilmumiskoht

[Tallinn]

kirjastus/väljaandja

[Tallinna Tehnikaülikool]

ilmumisaasta

2007

leheküljed

lk. 33-37 : ill

ISBN

978-9985-59-700-2

märkused

Bibliogr.: 17 nim

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

arvutisüsteemid

rikked

diagnostika (tehnika)

Raik, J., Ubar, R.-J., Govind, V. Test configurations for diagnosing faulty links in NoC switches // Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum. [Tallinn] : [Tallinna Tehnikaülikool], 2007. lk. 33-37 : ill.