Exact parallel critical path fault tracing to speed-up fault simulation in sequential circuits
autor
Kõusaar, Jaak
Ubar, Raimund-Johannes
Kostin, Sergei
Devadze, Sergei
Raik, Jaan
vastutusandmed
Kõusaar, Jaak; Ubar, Raimund; Kostin, Sergei; Devadze, Sergei; Raik Jaan
allikas
International journal of microelectronics and computer science
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 9, 1
ilmumisaasta
2018
leheküljed
p. 9−18
leitav
https://ijmcs.dmcs.pl/web/guest/vol.-9-no.-1
https://ijmcs.dmcs.pl/documents/10630/345460/IJMCS_1_2018_2.pdf
märksõna
rikked
elektronlülitused
diagnostika (tehnika)
kompuutersimulatsioon
võtmesõna
sequential circuits
fault simulastion
stuck-at-faults
critical path tracing
ISSN
2080-8755
märkused
Bibliogr.: 18 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise