Test set minimization using bipartite graphs
autor
Markus, Antti
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
A.Markus, J.Raik, R.Ubar
allikas
BEC'98 : the 6th Biennial Conference on Electronics and Microsystems Technology, October 7-9, 1998, Tallinn, Estonia : proceedings
ilmumiskoht
[Tallinn]
ilmumisaasta
1998
leheküljed
p. 175-178: ill
märksõna
testimine
graafid
maatriksid (matemaatika)
ISBN
9985-59-081-3
märkused
Bibl. 9 ref
keel
inglise