kompaktne vaade prindi

A DFT scheme to improve coverage of hard-to-detect faults in FinFET SRAMs

autor
Cardoso Medeiros, Guilherme
Gürsoy, Cemil Cem
Fieback, Moritz
Wu, Lizhou
Jenihhin, Maksim
Taouil, Mottaqiallah
Hamdioui, Said
vastutusandmed
Guilherme Cardoso Medeiros, Cemil Cem Gürsoy, Lizhou Wu, Moritz Fieback, Maksim Jenihhin, Mottaqiallah Taouil, Said Hamdioui
allikas
2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 9-13 March 2020, Grenoble, France : proceedings
kirjastus/väljaandja
EDAA
ilmumisaasta
2020
leheküljed
p. 792-797
konverentsi nimetus, aeg
2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE 2020), 9 to 13 March, 2020
konverentsi toimumispaik
Grenoble, France
leitav
https://doi.org/10.23919/DATE48585.2020.9116278
märksõna
rikked
testimine
mikroprotsessorid
võtmesõna
FinFET
SRAM
hard-to-detect faults
defects
DFT
memory testing
ISBN
978-3-9819263-4-7
märkused
Bibliogr.: 24 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus
Cardoso Medeiros, G., Gürsoy, C.C., Fieback, M., Jenihhin, M. et al. A DFT scheme to improve coverage of hard-to-detect faults in FinFET SRAMs // 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 9-13 March 2020, Grenoble, France : proceedings. : EDAA, 2020. p. 792-797. https://doi.org/10.23919/DATE48585.2020.9116278