prindi

Algorithms of functional level testability analysis for digital circuits

autor
Ubar, Raimund-Johannes
Kuchcinski, Ktzysztof
vastutusandmed
R.Ubar, K.Kuchcinski
allikas
Periodica polytechnica. Electrical engineering
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 36
ilmumisaasta
1992
leheküljed
3/4, p. 295-308
märksõna
algoritmid
testimine
digitaalintegraallülitused
keel
inglise
Ubar, R., Kuchcinski, K. Algorithms of functional level testability analysis for digital circuits // Periodica polytechnica. Electrical engineering (1992) Vol. 36, 3/4, p. 295-308.