Ubar, R., Kuchcinski, K. - TalTech teadusportaal

täiskirje prindi

Algorithms of functional level testability analysis for digital circuits

autor

Ubar, Raimund-Johannes

Kuchcinski, Ktzysztof

vastutusandmed

R.Ubar, K.Kuchcinski

allikas

Periodica polytechnica. Electrical engineering

ajakirja aastakäik number kuu

Vol. 36

ilmumisaasta

1992

leheküljed

3/4, p. 295-308

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

algoritmid

testimine

digitaalintegraallülitused

Ubar, R., Kuchcinski, K. Algorithms of functional level testability analysis for digital circuits // Periodica polytechnica. Electrical engineering (1992) Vol. 36, 3/4, p. 295-308.