About robustness of test patterns regarding multiple faults
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Kostin, Sergei
Raik, Jaan
vastutusandmed
Raimund Ubar, Sergei Kostin, Jaan Raik
allikas
LATW 2012 : 13th IEEE Latin-American Test Workshop proceedings : April 10th-13th, 2012, Quito, Ecuador
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2012
leheküljed
p. 86-91 : ill
konverentsi nimetus, aeg
LATW 2012: 13th Latin-American Test Workshop, April 10-13, 2012
konverentsi toimumispaik
Quito, Ecuador
leitav
https://www.infona.pl/resource/bwmeta1.element.ieee-art-000006261243
märksõna
testimine
rikked
arvutitehnika
ISBN
978-1-4673-2356-7
märkused
Bibliogr.: 37 ref
keel
inglise