Hierarchical approach to test generation for digital systems at system, circuit and defect levels
autor
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
R.Ubar
allikas
45. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, 04.-06.10.2000 : Tagungsband
ilmumiskoht
[Ilmenau]
kirjastus/väljaandja
Technische Universität Ilmenau
ilmumisaasta
2000
leheküljed
S. 711-716 : Ill
märksõna
vooluallikad
digitaaltehnika
testimine
diagnostika (tehnika)
defektid
märkused
Bibliogr.: 8 Tit. Tiitellehe pöördel ISSN 0943-7207
keel
inglise