Parallel exact critical path tracing fault simulation with reduced memory requirements
autor
Devadze, Sergei
Ubar, Raimund-Johannes
Raik, Jaan
Jutman, Artur
vastutusandmed
Sergei Devadze, Raimund-Johannes Ubar, Jaan Raik, Artur Jutman
allikas
4th International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscal Era : DTIS'09 : Cairo, Egypt, April 6-9, 2009
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2009
leheküljed
p. 155-160 : ill
leitav
https://ieeexplore.ieee.org/document/4938046
märksõna
elektriahelad
rikked
simulatsioon
kompuutermodelleerimine
testimine
ISBN
978-1-4244-4321-5
märkused
Bibliogr.: 18 ref
keel
inglise