The dependence of reverse recovery time on barrier capacitance and series on-resistance in Schottky diodes
autor
Veher, Oleksandr
Sleptšuk, Natalja
Toompuu, Jana
Korolkov, Oleg
Rang, Toomas
vastutusandmed
Oleksandr Veher, Natalja Sleptsuk, Jana Toompuu, Oleg Korolkov & Toomas Rang
allikas
Materials and contact characterisation VIII
ilmumiskoht
Southampton
kirjastus/väljaandja
WIT Press
ilmumisaasta
2017
leheküljed
p. 15-22 : ill
seeria-sari
WIT transactions on engineering sciences ; 116
konverentsi nimetus, aeg
8th International Conference on Computational Methods and Experiments in Materials Characterisation, 21-23 June, 2017
konverentsi toimumispaik
Tallinn, Estonia
leitav
https://doi.org/10.2495/MC170021
märksõna
dioodid
pooljuhtseadised
Schottky barjäär
mahtuvus (elektrotehnika)
takistusjõud
Scopus
https://www.scopus.com/sourceid/6000195382
https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85039048136&origin=inward&txGid=4faea48be3ad1b3d32945f9ba70be5f6
kvartiil
Q4
kategooria (üld)
Engineering
Tehnika
Chemical engineering
Keemiatehnoloogia
Materials science
Materjaliteadus
Chemistry
Keemia
kategooria (alam)
Engineering. Computational mechanics
Tehnika. Arvutusmehaanika
Chemical engineering. Fluid flow and transfer processes
Keemiatehnoloogia. Vedeliku voolu- ja ülekandeprotsessid
Engineering. Mechanics of materials
Tehnika. Materjalide mehaanika
Materials science. General materials science
Materjaliteadus. Üldine materjaliteadus
Chemistry. Electrochemistry
Keemia. Elektrokeemia
võtmesõna
reverse recovery time
Schottky diodes
barrier capacitance
series-on resistance
ISSN
1746-4471
ISBN
978-1-78466-197-7
märkused
Bibliogr.: 4 ref
Open Access
Open Access
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
Thomas Johann Seebecki elektroonikainstituut
keel
inglise