Toggle navigation
Otsi
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Toompuu, Jana (autor)
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Kirjeid leitud
29
Vaata veel..
(0/0)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(29)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Analysis of barrier inhomogeneities of P-type Al/4H-SiC schottky barrier diodes
Ziko, Mehadi Hasan
;
Koel, Ants
;
Rang, Toomas
;
Toompuu, Jana
Silicon Carbide and Related Materials 2019 : 18th International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2019 (ICSCRM 2019), Kyoto, Japan, September 29 - October 4, 2019
2020
/
p. 960-972
https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.1004.960
artikkel kogumikus
2
artikkel ajakirjas
Analysis of deep level centers in GaAs pin-diode structures
Korolkov, Oleg
;
Toompuu, Jana
;
Rang, Toomas
Elektronika ir elektrotechnika = Electronics and electrical engineering
2013
/
[4 p. ] : ill
artikkel ajakirjas
3
artikkel kogumikus
Analysis of deep level spectrum in GaAs p+-p-i-n-n+ structures
Toompuu, Jana
;
Sleptšuk, Natalja
;
Korolkov, Oleg
;
Rang, Toomas
Materials characterization VII
2015
/
p. 283-294 : ill
artikkel kogumikus
4
artikkel kogumikus
Comparative characteristics of diffusion-welded high-voltage stacks and connected in series Schottky diodes
Sleptšuk, Natalja
;
Korolkov, Oleg
;
Land, Raul
;
Toompuu, Jana
;
Annus, Paul
;
Rang, Toomas
BEC 2016 : 2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 15th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 3-5, 2016, Tallinn, Estonia
2016
/
p. 39-42 : ill
http://www.ester.ee/record=b2150914*est
artikkel kogumikus
5
artikkel kogumikus
Comparative investigation of the graphene-on-silicon carbide and CVD graphene as a basis for biosensor application
Sleptšuk, Natalja
;
Lebedev, Alexander A.
;
Eliseyev, Ilya
;
Korolkov, Oleg
;
Toompuu, Jana
;
Land, Raul
;
Mikli, Valdek
;
Zubov, Alexander
;
Rang, Toomas
Modern Materials and Manufacturing 2019 : 12th International DAAAM Baltic Conference and 27th International Baltic Conference BALTMATTRIB 2019. Selected, peer reviewed papers from the conference Modern Materials and Manufacturing 2019 (MMM 2019), April 24-26, 2019, Tallinn, Estonia
2019
/
p. 185-190 : ill
https://www.ester.ee/record=b5235278*est
https://www.scientific.net/KEM.799.185
https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.799.185
artikkel kogumikus
6
artikkel kogumikus
Comparison of individual SiC JBS chips and JBS stacks connected in series by diffusion welding
Sleptšuk, Natalja
;
Korolkov, Oleg
;
Toompuu, Jana
;
Rang, Toomas
BEC 2010 : 2010 12th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 12th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 4-6, 2010, Tallinn, Estonia
2010
/
p. 81-84 : ill
artikkel kogumikus
7
artikkel kogumikus
Degradation of 600-V 4H-SiC Schottky diodes under irradiation with 0.9 MeV electrons
Lebedev, Alexander A.
;
Davidovskaja, Klavdia
;
Kozlovski, Vitali V.
;
Korolkov, Oleg
;
Sleptšuk, Natalja
;
Toompuu, Jana
Silicon Carbide and Related Materials 2016 : selected, peer reviewed papers from the 11th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2016 (ECSCRM 2016), September 25-29, 2016, Halkidiki, Greece
2017
/
p. 447-450 : ill
https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.897.447
artikkel kogumikus
8
artikkel kogumikus
Degragation of 600-V 4H-SiC Schottky diodes under irradation with 0,9 MeV electrons
Lebedev, Alexander A.
;
Davydovskaja, K. S.
;
Kozlovski, Vitali V.
;
Korolkov, Oleg
;
Sleptšuk, Natalja
;
Toompuu, Jana
11th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials : September 25-29, 2016, Porto Carras Grand Resort, Halkidiki, Greece : [poster session]
2016
/
p. 49
artikkel kogumikus
9
artikkel ajakirjas
Diffusion welded contacts and related art applied to semiconductor materials
Korolkov, Oleg
;
Sleptšuk, Natalja
;
Toompuu, Jana
;
Rang, Toomas
Elektronika ir elektrotechnika = Electronics and electrical engineering
2011
/
p. 67-70 : ill
artikkel ajakirjas
10
artikkel ajakirjas
DLTS measurements on 4H-SiC JBS-diodes with boron implanted local p-n junctions
Ivanov, Pavel
;
Korolkov, Oleg
;
Samsonova, Tatyana
;
Sleptšuk, Natalja
;
Potapov, Alexander
;
Toompuu, Jana
;
Rang, Toomas
Materials science forum
2011
/
p. 409-412
artikkel ajakirjas
11
artikkel kogumikus
Experimental study of surface distortions in silicon carbide caused by diffusion welding
Mizsei, Janos
;
Korolkov, Oleg
;
Sleptšuk, Natalja
;
Toompuu, Jana
;
Rang, Toomas
BEC 2012 : 2012 13th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 13th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-5, 2012, Tallinn, Estonia
2012
/
p. 53-56 : ill
artikkel kogumikus
12
artikkel kogumikus
GaAs based diffusion welded high voltage diode stacks [Electronic resource]
Toompuu, Jana
;
Korolkov, Oleg
;
Sleptšuk, Natalja
;
Voitovitš, Viktor
;
Rang, Toomas
IEEE International Conference on Semiconductor Electronics CD-ROM Proceedings
2010
/
[4] p
artikkel kogumikus
13
artikkel kogumikus
Investigation of additional states in the silicon carbide surface after diffusion welding
Mizsei, Janos
;
Korolkov, Oleg
;
Sleptšuk, Natalja
;
Toompuu, Jana
;
Rang, Toomas
ICSCRM2011 : Cleveland Ohio, USA, September 11-16, 2011 : abstracts
2011
/
p. 356 : ill
artikkel kogumikus
14
artikkel kogumikus
Investigation of deep level centers in i- and n-layers of GaAs pin-diodes
Toompuu, Jana
;
Korolkov, Oleg
;
Sleptšuk, Natalja
;
Rang, Toomas
BEC 2014 : 2014 14th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 14th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 6-8, 2014, Tallinn, Estonia
2014
/
p. 25-28 : ill
artikkel kogumikus
15
artikkel ajakirjas
Investigation of p-i-n GaAs structures by DLTS method
Toompuu, Jana
;
Korolkov, Oleg
;
Sleptšuk, Natalja
;
Rang, Toomas
Elektronika ir elektrotechnika = Electronics and electrical engineering
2010
/
4, p. 51-54 : ill
artikkel ajakirjas
16
raamat
Investigation of P-i-n GaAs structures by DLTS method : the deep level transient spectroscopy in application to GaAs p-i-n structures for identification of deep levels
Toompuu, Jana
2010
raamat
17
artikkel kogumikus
Investigation of the graphene-on-silicon-carbide and CVD graphene as a basis for bioimpedance sensor applications : poster
Sleptšuk, Natalja
;
Land, Raul
;
Toompuu, Jana
;
Lebedev, Alexander A.
;
Davydov, Valery
;
Eliseyev, Ilya
;
Kalinina, Evgenia
;
Korolkov, Oleg
;
Rang, Toomas
ePosters
2018
/
1 p.: ill
https://cdn.technologynetworks.com/ep/pdfs/natalja-sleptsuk-a-raul-land-a-jana-toompuu-a-alexander-lebedev-b-valery-davydov-b-ilya-eliseyev-b.pdf
artikkel kogumikus
18
artikkel ajakirjas
Low-temperature annealing of lightly doped n-4H-SiC layers after irradiation with fast electrons
Korolkov, Oleg
;
Kozlovski, Vitali V.
;
Lebedev, Alexander A.
;
Sleptšuk, Natalja
;
Toompuu, Jana
;
Rang, Toomas
Semiconductors
2019
/
p. 975−978
https://doi.org/10.1134/S1063782619070133
artikkel ajakirjas
19
artikkel kogumikus
Method of samples preparation intended for research of deep centers in i-, n-, and p-layers of GaAs p
+
-pin-n
+
structures and result of analysis
Toompuu, Jana
;
Sleptšuk, Natalja
;
Korolkov, Oleg
;
Rang, Toomas
BEC 2016 : 2016 15th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 15th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 3-5, 2016, Tallinn, Estonia
2016
/
p. 35-38 : ill
http://www.ester.ee/record=b2150914*est
artikkel kogumikus
20
artikkel kogumikus
Numerical simulations for reverse recovery process investigations of LPE GaAs power diodes
Koel, Ants
;
Rang, Toomas
;
Voitovitš, Viktor
;
Toompuu, Jana
BEC 2012 : 2012 13th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 13th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-5, 2012, Tallinn, Estonia
2012
/
p. 39-42 : ill
artikkel kogumikus
21
artikkel kogumikus
SiC JBS diode symmetrical voltage doubler represented as the diffusion-welded stack
Korolkov, Oleg
;
Land, Raul
;
Toompuu, Jana
;
Sleptšuk, Natalja
;
Rang, Toomas
Silicon carbide and related materials 2017 : ICSCRM 2017 : selected, peer reviewed papers from the 2017 International Conference on Silicon Carbide and related materials, September 17-22, 2017, Washington, DC, USA
2018
/
p. 862–865 : ill
https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.924.862
artikkel kogumikus
22
artikkel kogumikus
SIC schottky diode rectifier bridge represented as the diffusion-welded stack
Korolkov, Oleg
;
Kozlovski, Vitali V.
;
Lebedev, Alexander A.
;
Land, Raul
;
Sleptšuk, Natalja
;
Toompuu, Jana
;
Rang, Toomas
Silicon Carbide and Related Materials 2016 : selected, peer reviewed papers from the 11th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2016 (ECSCRM 2016), September 25-29, 2016, Halkidiki, Greece
2017
/
p. 697-700 : ill
https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.897.697
artikkel kogumikus
23
artikkel kogumikus
SIC schottky diode rectifier bridge represented as the diffusion-welded stack
Korolkov, Oleg
;
Land, Raul
;
Sleptšuk, Natalja
;
Toompuu, Jana
;
Rang, Toomas
11th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials : September 25-29, 2016, Porto Carras Grand Resort, Halkidiki, Greece : [poster session]
2016
/
p. 42
artikkel kogumikus
24
artikkel kogumikus
Study of surface defects in 4H-SiC Schottky diodes using a scanning Kelvin probe
Mizsei, Janos
;
Korolkov, Oleg
;
Toompuu, Jana
;
Rang, Toomas
The 9th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials : abstract book : St. Petersburg Russia, 2-6 September, 2012
2012
/
2 p. : ill
artikkel kogumikus
25
artikkel kogumikus
Study of surface defects in 4H-SiC Schottky diodes using a scanning Kelvin probe
Mizsei, Janos
;
Korolkov, Oleg
;
Toompuu, Jana
;
Mikli, Valdek
;
Rang, Toomas
Silicon Carbide and Related Materials 2012 : selected peer reviewed papers from the 9th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ECSCRM 2012), September 2-6, 2012, St. Petersburg, Russian Federation
2013
/
p. 677-680 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 29, kuvan
1 - 25
eelmine
1
2
järgmine
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT