Combining functional and structural approaches in test generation for digital systems
autor
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Raimund Ubar
allikas
Microelectronics reliability
kirjastus/väljaandja
Elsevier
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 38, 3
ilmumisaasta
1998
leheküljed
p. 317-329 : ill
leitav
https://doi.org/10.1016/S0026-2714(97)00192-3
märksõna
digitaaltehnika
testimine
testid
märkused
Bibliogr.: 33 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise