prindi

Towards multidimensional verification : where functional meets non-functional

autor
Jenihhin, Maksim
Lai, Xinhui
Ghasempouri, Tara
Raik, Jaan
vastutusandmed
Maksim Jenihhin, Xinhui Lai, Tara Ghasempouri, Jaan Raik
allikas
2018 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS) : NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC) : 30-31 October 2018, Tallinn, Estonia : proceedings in IEEE Xplore
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2018
leheküljed
7 p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
2018 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS), 30-31 October 2018
konverentsi toimumispaik
Tallinn
leitav
https://doi.org/10.1109/NORCHIP.2018.8573495
märksõna
riistvara
võtmesõna
extra-functional verification
functional verification
survey
taxonomy
security verification
reliability verification
power verification
timing verification
ISBN
978-1-5386-7656-1
märkused
Bibliogr.: 71 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus
Jenihhin, M., Lai, X., Ghasempouri, T., Raik, J. Towards multidimensional verification : where functional meets non-functional // 2018 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS) : NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC) : 30-31 October 2018, Tallinn, Estonia : proceedings in IEEE Xplore. [S.l.] : IEEE, 2018. 7 p. : ill. https://doi.org/10.1109/NORCHIP.2018.8573495