Reliability evaluation of an impedance-source PV microconverter
vastutusandmed
Yanfeng Shen, Elizaveta Liivik, Frede Blaabjerg, Dmitri Vinnikov, Huai Wang, Andrii Chub
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 1104–1108 : ill
konverentsi nimetus, aeg
33rd Annual IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC 2018), 4-8 March 2018
konverentsi toimumispaik
San Antonio, Texas, USA
märksõna
WOS
kvartiil
kategooria (üld)
kategooria (alam)
võtmesõna
ISSN
1048-2334
ISBN
978-1-5386-1181-4
märkused
Bibliogr.: 23 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Uurimisrühm
Shen, Y., Liivik, E., Blaabjerg, F., Vinnikov, D., Wang, H., Chub, A. Reliability evaluation of an impedance-source PV microconverter // 2018 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC 2018), San Antonio, Texas, USA, 4-8 March 2018. Piscataway : IEEE, 2018. p. 1104–1108 : ill.