Reliability evaluation of an impedance-source PV microconverter
vastutusandmed
Yanfeng Shen, Elizaveta Liivik, Frede Blaabjerg, Dmitri Vinnikov, Huai Wang, Andrii Chub
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 1104–1108 : ill
konverentsi nimetus, aeg
33rd Annual IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC 2018), 4-8 March 2018
konverentsi toimumispaik
San Antonio, Texas, USA
ISSN
1048-2334
ISBN
978-1-5386-1181-4
märkused
Bibliogr.: 23 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
märksõna
võtmesõna
WOS
kvartiil
klassifikaator
kategooria (üld)
kategooria (alam)
Uurimisrühm
Shen, Y., Liivik, E., Blaabjerg, F., Vinnikov, D., Wang, H., Chub, A. Reliability evaluation of an impedance-source PV microconverter // 2018 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC 2018), San Antonio, Texas, USA, 4-8 March 2018. Piscataway : IEEE, 2018. p. 1104–1108 : ill.