Design-for-destability-based external test and diagnosis of mesh-like network- on-a-chips
autor
Raik, Jaan
Govind, Vineeth
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
J.Raik, V.Govind, R.Ubar
allikas
IET computers and digital techniques
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 3
ilmumisaasta
2009
leheküljed
5, p. 476-486 : ill
leitav
http://dx.doi.org/10.1049/iet-cdt.2008.0096
märksõna
võrguarhitektuur
integraallülitused
diagnostika (tehnika)
projekteerimine
ISSN
1751-8601
märkused
Bibliogr.: 22 ref
keel
inglise